PROFILER 加速器设备检测系统

PROFILER 加速器设备检测系统PROFILER 加速器设备检测系统单次测量可获得多个参数:平坦度、对称性、野尺寸、射线ZX点、半影宽度、光野一致性、剂量率、输出量、射线稳定性、电子能量验证、光子线楔形角度计算、脉冲计数、剂量/脉冲、脉冲/秒，等参数 。性能参数：探测器类型：半导体二极管 探测器数量：139个，X轴57个，Y轴83个 探测器间距:4.0毫米 探测器宽度:0.8毫米 探测器有效体积:0.000019立方厘米 探测器灵敏度:32.0nG／Gy 噪音/信号:0.15% 采样频率:100.00ms 探测器稳定性:在6MV时的 变化为0.5%/kGy 剂量率限制:56.0Gy/分钟 照射野尺寸:22.4X32.8厘米 固有建成厚度：1.0克/平方厘米 上层材料:等效水 背散射厚度:2.0克/平方厘米 辐射测量:电子线4MeV-25MeV 光子线:钴60-25MV 尺寸:6.0X25.6X52.0厘米 重量:5公斤 设置快速，无需预热，单次测量可获得多个参数。