Surfix BF外置探头铁基基本型测厚仪膜厚仪膜厚计
特点:
l 德国PHYNIX公司制造
l 碳化钨超耐磨测头,特快反应速度
l 同屏显示
l 可测铁基体上涂镀层
l 基体上涂层,量程1500μm
l 精度±1μm+1%读数.分辨率0.1μm,读数背景光
l 有红外可接PC及打印机
技术参数: 测量范围 | 0-1500µm,0 - 60mils |
误差 | ±(1µm+1%读数) |
分辨率 | 0.1µm或小于读数的2% |
显示 | 背光,字母加数字,10mm高,4位数字显示 |
基体Z小面积 | 5mmX5mm |
基体Z小曲率 | 凸面:1.5mm凹面:5mm |
基体Z小厚度 | F型:0.2mm,N型:50µm |
校准 | 厂家校准,零校准,校准箔校准 |
数据接口 | 红外通讯,IrDA标准 |
环境温度/表面温度 | 0-50℃/60℃(可选配150℃) |
电源 | 两节1.5伏五号碱性电池 |
仪器尺寸 | 137x66x23mm |
符合标准 | DIN,ISO,ASTM,BS |