Surfix F 铁基统计型测厚仪膜厚仪膜厚计_详细资料

产品信息

Surfix F外置探头铁基统计型测厚仪膜厚仪膜厚计
特点：
l          德国菲尼克斯公司制造
l          碳化钨超耐磨测头,特快反应速度
l          同屏显示统计数据
l          可存储前200测值
l          可测铁基体上涂镀层
l          基体上涂层,量程1500μm
l          精度±1μm+1%读数.分辨率0.1μm,读数背景光
l          有红外可接PC及打印机

技术参数：

测量范围

0-1500µm,0 - 60mils

误差

±（1µm+1%读数）

分辨率

0.1µm或小于读数的2%

显示

背光，字母加数字，10mm高，4位数字显示

基体Z小面积

5mmX5mm

基体Z小曲率

凸面：1.5mm 凹面：5mm

基体Z小厚度

F型：0.2mm ,N型： 50µm

校准

厂家校准，零校准，校准箔校准

数据统计（统计型）

读数个数（Z多9999个），平均值，标准偏差，Z大值和Z小值

数据存储（统计型）

Z多200个测量数值,可单独调出

数据值（统计型）

上下限可调,声音报警

数据接口

红外通讯,IrDA标准

环境温度/表面温度

0-50℃/60℃（可选配150℃）

电源

两节1.5伏五号碱性电池

仪器尺寸

137x66x23mm

符合标准

DIN，ISO，ASTM，BS

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基体Z小面积	5mmX5mm
基体Z小曲率	凸面：1.5mm 凹面：5mm
基体Z小厚度	F型：0.2mm ,N型： 50µm
校准	厂家校准，零校准，校准箔校准
数据统计（统计型）	读数个数（Z多9999个），平均值，标准偏差，Z大值和Z小值
数据存储（统计型）	Z多200个测量数值,可单独调出
数据值（统计型）	上下限可调,声音报警
数据接口	红外通讯,IrDA标准
环境温度/表面温度	0-50℃/60℃（可选配150℃）
电源	两节1.5伏五号碱性电池
仪器尺寸	137x66x23mm
符合标准	DIN，ISO，ASTM，BS

Surfix F 铁基统计型测厚仪 膜厚仪 膜厚计

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Surfix F 铁基统计型测厚仪膜厚仪膜厚计