STIL光谱共焦位移传感器
上海途优科学仪器有限公司
光谱共焦位移传感器工作原理:
光谱共焦测量原理:由光源射出一束宽光谱的复色光(呈白色),通过色散镜头发生光谱色散,形成不同波长的单色光,每个波长对应一个到被测物体的距离值,测量光射到物体表面被反射回来,只有满足共焦条件的单色光,可以通过小孔被光谱仪感测到。通过计算被感测到的光的波长,换算获得距离值。
产品特性与优势:
对样品无损伤:采用光谱轴向色差原理
可测样品的Z大倾角:87°,是测量高坡度和高曲折度样品的Z佳选择
应用范围广:平面、曲面、球面、透明、半透明、高曲折度、高光洁度、、金属材料、低反射度、粗糙样品(金属、玻璃、生物材料、合成材料、光学材料、纤维织物、涂层……)
同轴测量(无阴影)
镜面,高光金属均可高精度稳定测量
对环境光不敏感
透明体厚度和形态测量
有多种规格测头可选,量程范围100um~24000um。
搭载扫描平台可实现轮廓及三维形貌测量
粗糙度测量
可测量Z小几个纳米的粗糙度。
获取粗糙度测量结果效率远高于普通探针式
非接触单点式测量,对样品表面无损伤
轮廓及形貌测量
能满足几乎所有复杂工况下的二维及三维形貌测量,精度可达纳米级。
透明体厚度测量(玻璃厚度,薄膜厚度,液膜厚度)
STIL光谱共焦传感器采用先进的光谱共焦成像原理,使用一个共焦测头就能实现透明材料厚度的检测,极大程度提高测量效率及方便性
位移振动测量
由于超高测量精度及高速采样频率(Z高30KHz),使得其可以轻松满足微位移和振动的测量需求。
特型测头:
微型测头(轴向),直径6.0mm便于在狭小空间安装使用。
微型测头90°,内壁结构测量,孔的内部形貌测量。
上海途优科学仪器有限公司专业提供STIL光谱共焦位移传感器,洽谈。