UM-1超声波测厚仪根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的UM-1超声波测厚仪可以测试钢铁,塑料,玻璃,陶瓷等超声波的良导体的厚度。具有 小值捕捉功能,数据存储和报警功能。
技术数据
工作原理 脉冲~回波方式
测量范围 0.8~300mm取决于所用探头、所测材料、表面状况
单位及分辨率 毫米-0.1英寸-0.01
探头零点校准 一点校准(用于常规的厚度测量)
两点校准(测量曲面壁厚或特殊应用时,可显著提高测量精度)
V路径修正 自动V声程修正,补偿双晶探头的非线性度
示值误差 ±0.1mm (10mm以下)±0.5% H +0.01 (10mm以上)H为被测物厚度
重复性 ±0.1mm
显示屏 128×64点阵液晶屏(42×57毫米), 具有EL背光,
可调节对比度, 厚度值数字高度可达13.75毫米
测量刷新频率 常规测量时4Hz, 小值扫查时25Hz
材料声速范围 1000~9999m/s,0.0394~0.3937in/us
数据存储 划分5个数组,可存储500个厚度值
工作语言 中文、英文
电源 两节1.5VAA电池,当电池电量不足时,有低电压提示
操作时间 两节5号电池,使用时间可达200小时
自动关机 5分钟无操作后自动关机
工作温度 -10℃~+50℃,有特殊要求可达-20℃
尺寸 149mm×73mm×32mm (H×W×D)
重量 含电池200g
标准配置:UM系列测厚仪,标配探头,仪器箱,两节碱性电池,耦合剂,操作手册,合格证,装箱单
选配件:橡胶外套;众多可供选择的探头;校准用阶梯试块;耦合剂及高温耦合剂