35超声波测厚仪|35超声波测厚仪|35超声波测厚仪|35 超声波测厚仪

上海玖纵精密仪器有限公司

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35DL超声波测厚仪

Panametrics 35DL超声波测厚仪在大多数应用中都可应用35型和35DL型
35型和35DL型使用频率范围为2.25～30 MHz的探头，因此这些通用型测厚仪可完成大多数从极薄到极厚材料的厚度测厚。一般来说，探头频率越高而直径越小，对较薄或弯曲的工件测量的精度越高。

美国泛美系列的特性

所有型号的标准配置均包含声速和减缩率测量。
• 可测厚度范围宽：0.08 mm～635.0 mm（0.0030 in.～25.0 in.），取决于仪器和材料。
• 采用接触式、延迟线式、水浸式探头。
• 自动调用功能可调用默认设置和自定义设置。
• 手持式，仅重0.24公斤（8.5盎司）。
• Z小/Z大模式
• 高-低报警
• 英制和公制显示（英寸或毫米）
• 多种语言用户界面
• 长效电池

• 从薄到厚的大多数材料
• 薄如0.08毫米（0.003英寸）的塑料瓶、管件、管道、及板材
• 薄如0.10毫米（0.004英寸）的金属容器、钢卷材及机加工部件
• 汽缸孔、涡轮叶片
• 玻璃灯泡、瓶子
• 薄玻璃纤维、橡胶、陶瓷及复合材料
• 半径较小的曲面部分或容器
• 分辨率可达0.001毫米或0.0001英寸

利用减缩率，可测量金属材料因弯曲而变薄的临界厚度值。

所有仪器型号的标准配置都具有差分模式和减缩率模式。差分模式显示实测厚度与预设厚度之间的差值变化。缩减率计算并显示材料变薄以后厚度缩减的百分比。典型的应用是对为制造车身面板而弯曲成形的钢板进行测量。

可直接显示声速数值的声速测量模式

Panametrics 35DL材料声速测量
所有Panametrics 35型仪器均具有测量材料声速的性能。在材料声速与其它特性可能有关系的应用中，这个标准功能非常有用。典型应用包括监测金属铸件的球化程度，以及监测复合材料/玻璃纤维材料的密度变化。Olympus提供一个数字卡尺，用于自动传输测量厚度值。

Panametrics 35DL自动调用功能可简化测量操作
自动调用功能可使厚度测量简化。在选择了任何一种所存的探头时，35型仪器都可调用相关内置探头的所有参数。
Panametrics 35DL存储的标准设置标准设置包括大多数常用的探头。
Panametrics 35DL存储的自定义设置在标准设置不能满足特殊的应用需求时，这些测厚仪可以创建、存储和调用多达20个自定义设置（35型和35HP型可调用10个自定义设置）

在这种基本应用中不可使用测微计。然而，可以使用配有M208探头的35型仪器，在不损坏玻璃的情况下，进行校准精度达0.001毫米（0.0001英寸）的厚度测量。

渡越时间测量范围：0.0 µs～109.5 µs
渡越时间分辨率：固定在000.01 µs。
测量更新速率：4、8、16或Z大频率值（16～20 Hz，因应用和测量模式不同而不同）。
探头频率范围：2.25 MHz～30 MHz（35型和35DL型）
0.5 MHz～5.0 MHz（35HP型和35DL-HP型）
Z小/Z大模式：显示当前厚度、Z小厚度或Z大厚度（视设置而定）。
显示保持/空白：显示上一个读数后，屏幕显示空白或者持续显示这个读数。
报警模式：可编程高/低报警设定点，带有视听报警指示器。

差分模式：显示实际测量值和参考值之间的厚度差。
缩减率模式：显示厚度数值及实测厚度与参考厚度的百分比差值。
自动调用功能：自动为各种默认的和自定义的探头设置调节内部参数。

Panametrics 35DL标准附件
手腕带、3节AA电池、试块、探头线缆、耦合剂、便携箱、指导手册、两年有限保修。