DP-M3 手持式四探针测试仪/四探针电阻率仪／方阻仪

手持式四探针测试仪/四探针电阻率仪／方阻仪　型号：DP-M3

概述 DP-M3型手持式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。
成套组成：由DP-M3主机、选配的四探针探头等二部分组成，也可加配测试台。
仪器所有参数设定、功能转换全部采用轻触按键输入；具有零位、满度自校功能；手动/自动转换量程可选；测试结果由数字表头直接显示。本测试仪采用可充电电池供电，适合手持式变动场合操作使用！
探头选配：根据不同材料特性需要，探头可有多款选配。有高耐磨碳化钨探针探头，以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻；也有球形镀金铜合金探针探头，可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上四端子测试夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。配专用探头，也可测试电池极片等箔上涂层电阻率方阻。

仪器具有测量精度高、灵敏度高、稳定性好、智能化程度高、结构紧凑、使用简便等特点。
仪器适用于半导体材料厂、器件厂、科研单位、高等院校对导体、半导体、类半导体材料的手持式导电性能的测试。
三、基本技术参数1. 测量范围、分辨率
电 阻: 0.010 ～ 50.00kΩ, 分辨率0.001 ～ 10 Ω
电 阻 率: 0.010～ 20.00kΩ-cm，分辨率0.001 ～ 10 Ω-cm
方块电阻: 0.050～ 100.0kΩ/□ 分辨率0.001 ～ 10 Ω/□
2. 可测材料尺寸
手持方式不限材料尺寸，但加配测试台则由选配测试台决定如下：
直 径：DP-A圆测试台直接测试方式 Φ15～130mm。
DP-C方测试台直接测试方式180mm×180mm。
长(高)度：测试台直接测试方式 H≤100mm。.
测量方位: 轴向、径向均可.
3. 量程划分及误差等级
量程（Ω-cm/□） 2.000 20.00 200.0 2.000k 20.00k
电阻测试范围 0.010～2.200 2.000～22.00 20.00～220.0 0.200～2.200k 2.000～50.00k
电阻率/方阻 0.010/0.050～2.200 2.000～22.00 20.00～220.0 0.200～2.200k 2.000～20.00k
基本误差 ±1%FSB±2LSB ±2%FSB±2LSB

4) 适配器工作电源：220V±10％, f=50Hz±4％,PW≤5W，或电池供电
5) 外形尺寸：W×H×L=10cm×3.6cm×21cm
净 重：≤0.3kg

手持式数字式四探针测试仪/四探针电阻率/方阻测试仪 型号:DP-M2

概述
DP-M2型手持式数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。
仪器成套组成：由主机、选配的四探针探头等二部分组成，也可加配测试台。
主机主要由数控恒流源，高分辨率ADC、嵌入式单片机系统组成，自动转换量程。仪器所有参数设定、功能转换全部采用一旋钮输入；具有零位、满度自校功能；全自动转换量程；测试结果由数字表头直接显示。本测试仪采用可充电电池供电，适合手持式变动场合操作使用！
探头选配：根据不同材料特性需要，探头可有多款选配。有高耐磨碳化钨探针探头，以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻；也有球形镀金铜合金探针探头，可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上四端子测试夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。配专用探头，也可测试电池极片等箔上涂层电阻率方阻。


仪器具有测量精度高、灵敏度高、稳定性好、智能化程度高、结构紧凑、使用简便等特点。
仪器适用于半导体材料厂器件厂、科研单位、高等院校对导体、半导体、类半导体材料的导电性能的测试。
三、基本技术参数
1. 测量范围、分辨率
电 阻： 0.010 ～ 9999Ω, 分辨率0.001 ～ 1 Ω
电 阻 率： 0.010～ 2000Ω-cm， 分辨率0.001 ～ 1 Ω-cm
方块电阻： 0.050～ 2000Ω/□ 分辨率0.001 ～ 1 Ω/□
2. 材料尺寸
手持方式不限材料尺寸，但加配测试台则由选配测试台和测试方式决定
直 径：DP-A圆测试台直接测试方式 Φ15～130mm。
DP-C方测试台直接测试方式180mm×180mm。
长(高)度：测试台直接测试方式 H≤100mm。.
测量方位: 轴向、径向均可.
3. 量程划分及误差等级

量程（Ω-cm/□） 9.999 99.99 999.9 9999.
电阻测试范围 0.010～9.999 9.99～99.99 99.99～999.9 999.9～9999
电阻率/方阻 0.010/0.050～9.999 9.99～99.99 99.99～999.9 999.9～2000
基本误差 ±1%FSB±2LSB ±2%FSB±2LSB

4) 适配器工作电源：220V±10％, f=50Hz±4％,PW≤5W，或电池供电
5) 外形尺寸：W×H×L=18cm×7.5cm×13cm
净 重：≤0.5kg

纯水机/纯水仪 型号：DP27034

产品介绍

结构：
由铁板、低压开关、水泵、膜壳、高压开关、反冲压阀、变压器、滤瓶盖、*道滤瓶、第二道滤瓶、第三道滤瓶等部件组成。
规格参数：
额定电压：220V/50Hz
额定功率：28.8W
适用水压：0.03～0.6Mpa
纯水机工作压力：≤0.6Mpa
进水水温：4～45℃
产水量：10L/h，水质符合GB 6682-1992三级。

全功能导电类型鉴定仪/导电型号鉴别仪/PN型号测定仪 型号:DP-ST13

概述
DP-ST13型导电类型鉴定仪是运用热电势法原理和整流法鉴定半导体导电类型(PN类型)的仪器。
仪器成套组成：本仪器由主机和两套探头等部件组成。导电类型P或N由数码管显示。探头由冷、热两根配套使用。
优势特征：
热电势法中，热探针具有恒温可调功能，以适应宽范围低电阻率导电类型测试的需要！冷、热探针都采用即插式，方便更换。
整流法中，运用整流法原理鉴定半导体导电类型的仪器，同时兼备测试重掺的功能。
本仪器关键器件采用专用集成电路，并采用优质贴片工艺，仪器具有鉴定范围宽、灵敏度高、稳定性好、使用方便等特点。适用于半导体材料厂、半导体器件厂、科研单位、高等院校等对宽范围特别是低电阻率半导体材料的导电类型(PN类型)测试的需要！
三、技术参数
1. PN 鉴定范围：
热电势法ρ=1×10-4～1.0×103 Ω-cm，整流法 ρ=1×10-2～1.0×104 Ω-cm
2. 可测半导体材料尺寸：
PN 鉴定 ：可接触面 Smin= 3mm*3mm
3. 探头参数：
热电势法 ⑴热探头： 温度调节范围60℃～200℃，探针：镀镍“不老头”
⑵冷探头： 单针式，
整流法， 钢针镀镍
4. 电源：
220V±10% 50Hz，
功 耗： <20W
5．工作环境：
温 度： -10℃～40℃ ，相对湿度： 50%～70%
工作室内应无强电磁场干扰
6. 外形尺寸及重量：
主机： 175mm（长）×200 mm（宽）×70mm（高）重量： 约1kg

紫外线测定仪/紫外线检测仪 型号：DP-1

产品参数：