经济型浊度仪/经济型浊度计 型号:DP-SGZ-1A
经济型浊度仪/经济型浊度计 型号:DP-SGZ-1A用 途
DP-SGZ型数显浊度仪是用于测量悬浮于水或透明液体中不溶性颗粒物质所产生的光的散射程度,并能定量表征这些悬浮颗粒物质的含量。本仪器采用国际标准ISO7027中规定的福尔马肼(Formazine)浊度标准溶液进行标定,采用NTU作为浊度计量单位。
可以广泛应用于发电厂、自来水厂、生活污水处理厂、饮料厂、环保部门、工业用水、制酒行业及制药行业、防疫部门、医院等部门的浊度测定
型号:DP-SGZ-1A技术参数
型 号 | DP-SGZ-1A DP-SGZ-200AS | DP-SGZ-2A DP-SGZ-20A | DP-SGZ- 3 A DP- SGZ- 3 AP | DP-SGZ- 5 A DP- SGZ- 200A | DP-SGZ- 6 A DP- SGZ- 400A |
测量范围 (NTU) | 0 -100 0-200 | 0- 20 | 0 - 20 | 0- 20 0量程自动切换 | 0- 4 0 0量程自动切换 |
Z小示值 | 0.1 | 0.01 | 0. 00 1 | 0.01 | 0. 0 1 |
示值误差 | ±2.5%F.S | ±2%F.S | ±2.5%F.S | ±2%F.S | ±2.5%F.S |
重复性 | 1 .5 %F.S | 1%F.S | 1%F.S | 1%F.S | 1%F.S |
零点漂移(NTU/30min) | 0. 2 NTU | 0. 05 NTU | 0 .05 NTU | 0. 05 NTU | 0. 05 NTU |
示值稳定性 | ≤1% | ≤1% | ≤1% | ≤1% | ≤1% |
说明 | 所有P型号带R232输出接口,可连接电脑和打印机 |
数字式四探针测试仪/四探针测试仪/数字式四探针检测仪 型号:DP-SZT-2000
DP-SZT-2000型数字式四探针测试仪是根据四探针测试原理研究成功的多用途的综合测量装置,它可以测量棒状、块状
半导体材料的电阻率和半导体扩散层的薄层电阻进行测量,可以从10-6--105Ω—cm全量程范围检测硅的片状、棒状材料的电阻、薄层电阻,是硅材料质量监测的必需仪器。
仪器为台式结构,分为电气箱、测试架两大部分,用户可以根据测试需要安放在一般工作台或者专用工作台上,测试架由探头及压力传动机构、样品架组成,耐磨和使用寿命长的特点。探头内设有弹簧压力装置,压力从0—2Kg连续可调,测试架设有手动和电动两种装置供用户选购。
仪器电气箱主要由高灵敏的直流数字电压表和高稳定的恒流源组成,测量结果由数字直接显示,仪器有自校量程,可以方便地对仪器的电气性能进行校验。
仪器具有测量精度高、灵敏度高、稳定性好、测量范围广、结构紧凑、使用方便等特点,仪器适用于半导体材料厂、器件厂、科学研究部门、高等院校,对半导体材料的电阻性能测试及工艺检测。
仪器主要技术指标:
1. 范围:电阻率10-4—103Ω—cm,可扩展至105Ω—cm,分辩率为10-6Ω—cm
方块电阻10-3—103Ω /□
电阻10-6—105Ω
2. 可测半导体尺寸:直径Φ15—150mm
3. 测量方式:轴向、断面均可(手动测试架)
4. 数字电压表(1)量程0.2mV、2mV、20mV、200mV、2V
(2)测量误差 0.2mV档±(0.3%读数+8字)
2 mV档以上±(0.3%读数+2字)
(3)输入阻抗0.2mV、2mV挡105Ω
20mV档以上>108Ω
(4)显示3 1/2位数字显示,0—1999
具有极性和过载自动显示,小数点、单位自动显示
5. 恒流源:(1)电流输出:直流电流0—100mA连续可调,由交流电源供给
(2)量程:10μA、100μA、1mA、10mA、100mA 五档
(3)电流误差:±(0.3%读数+2字)
6.四探针测试探头 (1)探头间距:1mm (2)探针机械游率:±0.3%
(3) 探针:Φ0.5mm (4)压力:可调
7. 测试架:
(1)手动测试架:探头上升及下降由手动操作,可以用作轴向和断面的单晶棒和硅片测试。
(2)电动测试架:探头的上升和下降由电动操作,设有自动控制器控制,探头上升时间1S—99S可调,探头下降时间1S—99S可调,压力恒定可调(由砝码来设定)同时设有脚踏控制装置由脚踏开关控制探头上下运动。
8.电流:220V±10% 50HZ或60HZ:功率消耗<35W
9. 外形尺寸:电气箱130×110×400mm
二探针单晶硅及多晶硅测试仪 型号:DP-GL-1
本仪器主要用于测量大直径的单晶硅和多晶硅的电阻率分布情况,以便硅材料的切割和加工。
为适应大规模集成电路的迅猛发展,特别是计算机芯片、内存的发展,越来越多的使用到了大直径、高纯度、均匀度更高的单晶硅材料。目前,在美国、德国等先进的工业国家,均采用了二探针法,使用二探针检测仪来测量大直径单晶硅的电阻率分布情况。
仪器符合美国ASTM 《“F391-77”关于二探针测量硅单晶试验方法》的标准,是一种新型的半导体电阻率测试仪,适合半导体材料厂和器件厂用于二探针法精确测量单晶硅和多晶硅半导体棒状材料的体电阻率,从而进一步判断半导体材料的性能,指导和监视工艺操作,也可以用来测量金属材料的电阻,仪器具有测量精度高、稳定性好、结构紧凑、使用方便、造型美观等特点。也可以配四探针测试头作常规的四探针法测量硅晶体材料。
仪器分为仪表电气控制箱、测试台、探头三部分,仪表电气控制箱由高灵敏度直流数字电压表、高抗干扰高隔离性能的电源变换装置、高稳定高精度恒流源和电气控制部分组成。测量结果由大型LED数字显示,零位稳定、输入阻抗高,并设有自校功能。在棒状材料使用二探针法测试时,具有系数修正功能,从面板输入相应的修正系数,可以直接读出电阻率,使用方便。测试台结构新颖,造型美观,可以方便地固定好大小任意尺寸的样品,并可以作逐点选择步进测量,也可以自由选择固定位置测量,电极活动自如,具备锁定装置,方便重复测量。另外还配置了二处记录板和转椅,测试探头能自动升降,探针为碳化钨材料,配置宝石轴承,具有测量精度高、游移率小、耐磨、使用寿命长特点。同时探头压力恒定并且可调整,以适合不同的材料。
仪器主要技术指标:
1.可测硅材料尺寸:
直径Φ25~Φ150mm满足ASTM F-397的技术要求。
长度:100~1100mm.
2.测量方式:轴向测量,每隔10mm测量一点。
3.测量电阻率范围:10-3~103Ω-cm,可扩展到105Ω-cm。
4.数字电压表:
(1)量 程:0.2mV、2mV、20mV、200mV、2V
(2)测量误差:±0.3%读数±2字
(3)输入阻抗:0.2mV和2mV档>106Ω
20mV档及以上>108Ω
(4)显 示:31/2位LED数字显示,范围0~1999。
5.恒流源:
(1)电流输出:直流电流0~100mA连续可调。
(2)量 程:10μA、100μA、1mA、10mA、100mA
(3)电流误差:±0.3%读数±2字
6.二探针测试装置:
(1)探针间距:4.77mm
(2)探针机械游移率:0.3%
(3)探针压力:0~2kg可调
(4)测试探头自动升降
7.二探针测试台
(1)测试硅单长度:100-1100mm
(2)测试点间距:10mm
(3)测试台有慢、快二种移动速度,快速移动速度为1000mm/分(均匀
手动)
8.电源:交流220V±10%,50HZ±2HZ,消耗功率<150W
电线电缆半导电橡塑电阻测试仪/电阻测试仪 型号:DP-DB-4
DP-DB-4电线电缆半导电橡塑电阻测试仪是根据国家标准GB3048.3—94研究成功的精密测量设备,主要用于测量电缆用橡胶和塑料半导电材料中间试样电阻率以及各种导电橡塑产品电阻,若换上特殊的四端子测试夹,还可以对金属导体材料及产品的低、中值电阻进行测量
经过了十多年的实际运行,全国近百家主要电缆厂和生产半导电屏蔽材料厂均已采用了该仪器,它是目前全国*符合国家标准GB3048.3-94的测量半导电橡塑材料电阻率的仪器。
仪器为台式结构,主要由电气箱、测试架两大部分组成,固定在专用工作台上,电气箱包括高灵敏的直流数字电压表和高稳定的直流恒流源,测量结果采用LED数字直接显示,测量电流输出也采用LED数字显示,从0—100mA范围内可任意调节,可达到控制测试功率损耗的规定,仪器测试架由电极、压力探头、样品台及电动传动机构组成,操作按键电钮,可进行半自动测量。
仪器具有测量精度高、稳定性好、结构紧凑、使用方便等特点,完全符合国际和国家标准的要求。
仪器适用于电缆厂、导电橡塑材料厂、计算机厂、电子表厂、高等院校、科学研究等部门,对于导电橡塑材料及产品的电阻性能测试、工艺检测,是必需的测试设备。
仪器主要技术指标:
一、 测量范围:10-4--103Ω-cm可扩展到105Ω-cm;分辩率10-6Ω-cm
二、 数字电压表:
1. 量程0.2mV、2 mV、20 mV、200 mV、2V
2. 测量误差 0.2mA档±(0.5%读数+8字);2mV—2V挡±(0.5%读数+2字)
3. 显示3 1/2 位数字显示0—1999具有极性和过载自动显示,小数点、单位自动显示。
三、 恒流源:
1. 电流输出:直流电流0—100mA连续可调,由交流电源供给,数字显示
2. 量程:10μA、100μA、1mA、10mA、100mA
3. 电流误差:±(0.5%读数+2字)
四、 测量电极:
1. 电流电极:宽度50mm,与试样的接触宽度5mm,两个电流电极间的距离110mm
2. 电位电极:宽度50mm,接触半径<>,两个电位电极间的距离20mm±2%
五、电源:220±10% 50HZ或60HZ 功率消耗<50W
六、外形尺寸(包括测试工作台)1200×600×1050mm(长×宽×高)
半导电橡塑材料电阻高温测试架/电阻高温测试架 型号:DP-DB-4/DB-5
测试架是与本公司生产的DP-DB-4型电线电缆半导电橡塑电阻测试仪的配套产品。DP-DB-4仪器是检测半导电橡塑材料在23°C时的电阻率值,配上本测试架后可以扩展功能,将本测试架放入烘箱,可以检测该材料在0~180°C高温下,电阻率变化值。
本测试架有以下特点:
1、 技术性能完全符合国标GB3048.3要求,具有标准尺寸的电流电极、电压电极,及加压系统,样品盒绝缘强度大于1012Ω。
2、 投资少具有标准接口,能与DP-DB-4型电线电缆半导电橡塑电阻仪配套使用,能满足新老用户的要求,凡以前已购买了DP-DB-4仪器的用户不必再买仪器烘箱了,应用原有仪器设备省钱省事。
3、 技术先进工作可靠,工作温度范围大采用高强度高绝缘耐温材料制成放入烘箱,可以从0~180°C连续长期工作,为研究高分子材料在90~120°C乃至180°C高温条件的电阻率变化,提供了有力保障。
4、 操作简单,使用方便,寿命长。
附注:DP-DB型电线电缆半导电橡塑电阻测试仪于1985年通过全国鉴定,是完全依照国标GB3048.3-83的要求进行设计的,在20多年运用中,仪器几经改进,全国又有200多家电缆厂、造粒厂、研究所、大学购买了本仪器,经过漫长岁月的考核使用后,实践充分证明本仪器技术先进,测量精度高,性能稳定可靠,使用操作方便,是国内*符合GB3048.3要求的仪器,深受国内外各交联电缆厂,高分子材料厂,半导电橡胶厂,高校研究所的欢迎,是半导电材料体电阻率性能研究时必备的仪器设备
注:产品详细介绍资料和上面显示产品图片是相对应的