ES45保护膜/ES45保护膜/北京泰如ES45保护膜专业供应平台
美国GE ES45保护膜/北京泰如ES45保护膜价格优惠
美国GE ES45保护膜可根据客户需求定制特殊规格
ES45保护膜用于手动检测。应用接触法探伤时,需要在测量区域或多个测量区域涂上薄薄的一层耦合剂,然后直接将探头放置在被测物体表面进行检测。接触法探伤将探头分别放置在各检测点逐点检测,或者在被测物体表面连续移动探头来完成的。
接触法直探头, 带保护膜探头
北京泰如电子科技有限公司
:
应用
• 一般检测目的, 简单形状的大零件
• 锻件, 铸件
• 板材, 棒材, 方型材
• 容器, 机器零件, 壳体
• 高温检测时带延迟块
性能特征
• 欧款有可更换膜:
- 在不平整和曲面上增进耦合
- 延长探头寿命
- 适于DGS缺陷评定
- 可连接高温延迟块
- Lemo 1(B..S) 或 Lemo 00 (MB..S) 连接端口, 标准为侧装, 顶装可选
• 美款有三种类型的保护:
- 膜可以在不平整和曲面上增进耦合.
- 耐磨帽定期更换可无期限延长探头寿命
- 高温延迟块可以实现 00°F ( 00°C)表面检测.
- BNC 连接端口, 顶装或侧装
带保护膜探头—欧洲规格
![](http://item.yiqi.com/pic/ConPic/2/246358927018885910442146582.png!bac)
B..S 和 MB..S 型
0,5μS/Div 0-4MHz典型波形和频谱
外壳类型 | A | B | C |
mm | in | mm | in | mm | in |
类型2 | 30 | 1.18 | 59 | 2.32 | 45 | 1.69 |
类型3 | 20 | 0.79 | 43 | 1.77 | 25 | 0.98 |
类型 | 订购号码 | D | f | N | 备注 |
mm | in | (MHz) | mm | in |
B1S | 57744 | 24 | 0.94 | 1 | 23 | 0.9 | |
B1S-EN | 500035 | 24 | 0.94 | 1 | 23 | 0.9 | 符合 DIN EN 12668-2 |
B1S-O | 57755 | 24 | 0.94 | 1 | 23 | 0.9 | 顶端接口 |
B2S | 57745 | 24 | 0.94 | 2 | 45 | 1.8 | |
B2S-EN | 500036 | 24 | 0.94 | 2 | 45 | 1.8 | 符合 DIN EN 12668-2 |
B2S-O | 57756 | 24 | 0.94 | 2 | 45 | 1.8 | 顶端接口 |
B2S-O-EN | 500267 | 24 | 0.94 | 2 | 45 | 1.8 | 符合 DIN EN 12668-2 顶端接口 |
B4S | 57746 | 24 | 0.94 | 4 | 88 | 3.5 | |
B4S-EN | 500037 | 24 | 0.94 | 4 | 88 | 3.5 | 符合 DIN EN 12668-2 |
B4S-O | 57757 | 24 | 0.94 | 4 | 88 | 3.5 | 顶端接口 |
B4S-O-EN | 500268 | 24 | 0.94 | 4 | 88 | 3.5 | 符合 DIN EN 12668-2 顶端接口 |
B5S | 57747 | 24 | 0.94 | 5 | 110 | 4.3 | |
| | | | | | | |
MB2S | 57748 | 10 | 0.39 | 2 | 8 | 0.3 | |
MB2S-EN | 500038 | 10 | 0.39 | 2 | 8 | 0.3 | 符合 DIN EN 12668-2 |
MB2S-O | 57975 | 10 | 0.39 | 2 | 8 | 0.3 | 顶端接口 |
MB4S | 57749 | 10 | 0.39 | 4 | 16 | 0.6 | |
MB4S-EN | 500039 | 10 | 0.39 | 4 | 16 | 0.6 | 符合 DIN EN 12668-2 |
MB4S-O | 57976 | 10 | 0.39 | 4 | 16 | 0.6 | 顶端接口 |
MB5S | 57750 | 10 | 0.39 | 5 | 20 | 0.8 | |
MB5S-O | 57977 | 10 | 0.39 | 5 | 20 | 0.8 | 顶端接口 |
可定制特殊规格
附件
描述 | 类型 | 备注 |
保护膜 (1套=10片) | ES45(53756) ES24(53769) | 用于B..S; 用于MS..S |
延迟块或斜块 | 特殊订单 | 如用于高温检测 |
电缆线 | PKLL2(50326) MPKL2(50486) | 用于B..S; 用于MS..S |
带保护膜探头—北美规格
![](http://item.yiqi.com/pic/ConPic/2/246358927020409055145501455.png!bac)
晶片尺寸 | A | B | C |
mm | in | mm | in | mm | in | mm | in |
13 | 0.5 | 19.1 | 0.75 | 30.5 | 1.2 | 23.9 | 0.94 |
19 | 0.75 | 25.4 | 1 | 30.5 | 1.2 | 30.2 | 1.19 |
25 | 1 | 31.8 | 1.25 | 30.5 | 1.2 | 36.6 | 1.44 |
带保护膜探头—PFCR (侧装BNC), PFCS (顶装BNC)
频率 | 晶片尺寸Ø | 订购号码 | 频率 | 晶片尺寸Ø | 订购号码 |
(MHz) | mm | in | Gamma 系列PFCR | Gamma 系列PFCR | (MHz) | mm | in | Gamma 系列PFCR | Gamma 系列PFCR |
1 | 13 | 0.5 | 241-240 | 241-260 | 3.5 | 13 | 0.5 | 243-240 | 243-260 |
19 | 0.75 | 251-240 | 251-260 | 19 | 0.75 | 253-240 | 253-260 |
25 | 1 | 261-240 | 261-260 | 25 | 1 | 263-240 | 263-260 |
2.25 | 13 | 0.5 | 242-240 | 242-260 | 5 | 13 | 0.5 | 244-240 | 244-260 |
19 | 0.75 | 252-240 | 252-260 | 19 | 0.75 | 254-240 | 254-260 |
25 | 1 | 262-240 | 262-260 | 25 | 1 | 264-240 | 264-260 |
注意: 备用保护膜套装另售. 可订制特殊规格
备用保护膜套装—PFCR/PFCS
套装类型 | 订购号码 |
探头晶片尺寸Ø |
.5in | .75in | 1.00in |
(13mm) | (19mm) | (25mm) |
PM | 118-450-120 | 118-450-140 | 118-450-160 |
PWC | 118-450-220 | 118-450-240 | 118-450-260 |
PHTD-1.0in(25.4mm)延迟块 | 118-450-320 | 118-450-340 | 118-450-260 |
PHTD-1.5in(38.1mm)延迟块 | 118-450-420 | 118-450-440 | 118-450-460 |
PM型工具包包括一个滚花环、压紧螺母、扳手、12片薄膜和一瓶2盎司的耦合剂(不包括探头) 。
PWC型工具包包括一个滚花环、三个防磨帽和一瓶2盎司的 耦合剂(不包括探头) 。如果对近表面分辨率要求很高,则不能采用该选项。
PHTD型工具包包括一个滚花环、一个1英寸或1.5英寸长的高温延迟块和一瓶2盎司的耦合剂 (不包括探头) 。
| 订购号码 |
探头晶片尺寸Ø |
.5in | .75in | 1.00in |
(13mm) | (19mm) | (25mm) |
保护膜 每包12片 | 118-220-020 | 118-220-021 | 118-220-022 |
耐磨帽 每包12个 | 118-240-123 | 118-240-122 | 118-240-121 |
高温延迟块*长1.0in(25.4mm) | 118-440-027 | 118-440-031 | 118-440-035 |
高温延迟块*长1.5in(38.1mm) | 118-440-029 | 118-440-033 | 118-440-037 |
BNC 电缆线 | 118-140-016 |
保护膜,耐磨帽 以及延迟块 耦合剂 | 118-300-740 |
*高温(PHTD)延迟块:Z高温度400F,Z大接触时间为10秒;重新使用前冷却到环境温度。
探头选择准则与性能
直探头---单晶
![](http://item.yiqi.com/pic/ConPic/2/246358927023101702437892678.png!bac)
• 被检测件有规则外形和相对光滑的接触表面
• 接触面或平或曲
• 缺陷或背反射平行于表面,可被垂直于表面的声束探测
• 适于穿透厚部件
• 延迟块用以提高近场分辨率
• 需要耦合层,一般为凝胶,油类,浆糊
• 通常用于手动检测
直探头---双晶
![](http://item.yiqi.com/pic/ConPic/2/246358927024248133171629322.png!bac)
• 接受发射单元用串扰挡板分开
• 缺陷或背反射平行于表面,可被垂直于表面的声束探测
• 近表面分辨率好,用于较薄部件
• 需要耦合层,一般为凝胶,油类,浆糊
• 通常用于手动检测
斜探头
![](http://item.yiqi.com/pic/ConPic/2/246358927025170434218478578.png!bac)
• 晶片安装在内置的或者可更换的斜块上
• 利用折射让纵波或者横波沿确定角度传播
• 大多数标准探头通过模式转换
• 适于倾斜缺陷的检测,如焊缝
• 有单晶探头和双晶探头
• 需要耦合层,一般为凝胶,油类
• 有时用于机械化或自动化检测
水浸探头
• 在水中匹配好,效率高
• 适于具有不规则表面的被检测件
• 通常用于机械化或者自动化检测
• 耦合一致性好,检测重复性高
• 大型零件可以采用探头架, 溢流法或者水射流法
• 探头聚焦可以增进效果
聚焦的优点
![](http://item.yiqi.com/pic/ConPic/2/246358927026135705653629074.png!bac)
• 球面聚焦形成点状
• 柱面聚焦形成线状
聚焦优势
![](http://item.yiqi.com/pic/ConPic/2/246358927026952240914521311.png!bac)
探头选择准则—欧洲规格
按照欧洲标准生产的探头, 本目录提供的技术性能信息依照下表定义。
绝大多数的探伤仪探头都免费提供全面的性能数据表。
性能参数 | 解释 |
晶片尺寸 D 或 a×b | 探头晶片的直径D或长度×宽度a×b。它的尺寸大小对声波的传输有极大的影响。轻微的偏差,如形状的偏差,或粘接不良造成的位置偏差而产生的声能衰减,即使是利用参考缺陷进行标定,都将产生严重的评估误差。 |
标称频率f | 所有相同类型探头的均值频率,频率对反射体的评定有极大的影响。对斜反射体,频率甚至影响声场波形和反射特性。随着频率的增加,非垂直反射体对声束的反射回波减小。这就是为什么每一个探头都要由我们的质量控制部门根据鉴定标准进行严格检测,以确定其频率是否与标称频率相一致,保证在一定的误差范围内。这个数据输入到探头的数据参数表。 |
带宽B | 脉冲回波的幅值比Z高幅值下降 dB之间的频率范围。B=fo-fu/fx fo=幅值下降 dB的上限频率,fu=幅值下降 dB的下限频率,f为标称频率。例如,当B=,一个4MHz的探头的fo为6MHz,而fu为2MHz。大的带宽意味着更短的脉冲回波,也就意味着高的分辨率和更好的穿透能力,因为低频脉冲比标称频率脉冲的衰减小。在高衰减情形下,与标称频率相比,随着距离的增加,反射信号的频率减小。这一点在进行缺陷评估时必须要加以考虑。因此每一个探头的带宽都要进行检查,并且与所有探头的平均值相一致,保证在一定的误差范围内。 |
焦距F | F:小缺陷产生Z大回波时探头到小缺陷的距离。探头要进行聚焦以便探测小缺陷并得到Z大的回波 幅值,只有在探头的近场才可能聚焦。 |
近场长度N | 近场长度N是非聚焦探头的焦距长度,它是声轴线上能得到声压极大值的Z远距离。N的大小由D、c和f来决定。由于D>>λ,所以:N=Deff/4λ=Deffxf/4c其中λ为波长,c为声速,Deff是单元有效直径焦点处和近场长度处声能Z为集中,反射体Z易识别。因此重要测试场合一般预期缺陷在焦距或近场长度处。表中的数据对钢材而言,而水浸探头为水。 |
焦点直径FD | 在焦距或近场长度附近,声压值比主声轴下降 dB处到主声轴的距离 |
脉冲形状 | 来自于平面反射面的信号表述。 |
频谱 | 回波脉冲中所有频率的显示,频率幅值在频率上显示。 |
声束角度β | 主声束与检测面法线之间的夹角 |
探头选择准则—北美规格
根据北美标准生产, 通用电气检测科技提供三种系列的探头: Alpha, Benchmark, 和Gamma系列。根据ASTME-0,对所有探伤仪所用探头免费提供波形和频率证书。
Alpha 系列特性
![](http://item.yiqi.com/pic/ConPic/2/246358927028197601236659373.png!bac)
• 推荐用于分辨率是首要考虑目标的场合.
• 适于测厚和近表面缺陷测量.
• 脉冲短—机械衰减大到目前技术极限.
• 增益通常低于Benchmark和Gamma系列.
• 宽带—6dB 带宽范围从50% 到.
• 依据频率,尺寸和其他参数,典型的Alpha 系列波形(右)有一到两个周期振荡。
Benchmark 系列特性
![](http://item.yiqi.com/pic/ConPic/2/246358927029771685114871087.png!bac)
• 产品BENCHMARK COMPOSITE®(压电复合材料)晶片
• 在衰减材料中的穿透力远高于传统探头。
• 在粗晶,纤维增强复合等材料中信噪比高。
• 脉冲短—分辨率通常高于Gamma系列。
• 增益通常高于Gamma和Alpha系列。
• 超宽带—6dB 带宽范围从60% 到120%.
• 低声阻抗晶片提高了斜探头、延迟式探头和水浸探头的性能—与塑料和水可以极好地匹配。
Gamma 系列特性
![](http://item.yiqi.com/pic/ConPic/2/246358927030848679599992694.png!bac)
• 通用型探头,推荐用于大多数应用。
• 中等脉冲宽度, 中等阻尼—增益和分辨率的Z佳结合.
• 匹配电路在常用场合确保了Z大增益和理想的波形.
• 中等带宽—典型的6dB带宽从30% 到50%.
• 依据频率,尺寸和其他参数,典型的Gamma系列波形有三到四个周期振荡。
北京泰如电子科技有限公司
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ES45保护膜/GE保护膜ES45
ES45保护膜/GE保护膜ES45