Contour GT系统利用白光干涉来测量纳米级至微米级的表面形貌,并且具有业界Z大视场下的Z高垂直分辨率。仪器具备多种倍率物镜(1.25倍-100倍),可以表征具有不同表面形状和结构的样品。而且在任何放大倍数下,系统的纵向范围都能够达到亚-埃至毫米级,其灵活性无可比拟。
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