极限值 | XS3DU 双量程 |
Z大称量值 | 3.1 g |
可读性 | 0.01 mg |
Z大称量值 | 0.8 g |
可读性 | 0.001 mg |
重复性(sd) - 加载处 | 0.006 mg |
- 低加载(加载处) | 0.005 mg (0.2 g) |
重复性(sd) - 加载处 | 0.001 mg |
- 低加载(加载处) | 0.0008 mg (0.2 g) |
线性误差 | 0.004 mg |
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梅特勒-托利多微量电子天平典型值 4) | |
典型重复性(sd) | 0.0005 mg +1.2 x (10–7)•R_gr |
典型微分非线性(sd) | √2x(10-12)g·R_nt |
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典型灵敏度偏移(sd)2) | 3 x (10–6)•R_nt |
典型Z小称量值* (@ U=1 %, 2 sd) | 0.1 mg+2.4 x (10–6)•R_gr |
典型稳定时间 | < 6 sec |
稳定时间 | < 10 sec |
1) 根据OIML R76
2) 在10到30°C的温度范围内
3) *次安装,使用proFACT校准,灵敏度稳定性
4) 能用于估计不确定度 sd=标准偏差 Rgr=毛重 Rnt=净重(样品质量) a=年
* 重复性和Z小称量值可以通过以下措施得以改进:- 选择适当的称量参数设置,- 选择合适的天平放置位置,- 使用较小的去皮容器。