SY.116-TT23 便携式数显式磁性测厚仪

便携式数显式磁性测厚仪 概述：

SY.116-TT23采用了涡流测厚法它是一种超小型的测量仪，它能快速、无损伤、精密地测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度。可广泛用于制造业、金属加工业、商检测领域。由于该仪器体积小，测头与仪器一体化，特别适用于工程现场测量。

便携式数显式磁性测厚仪 技术参数：

具有五个统计量

可存贮15个测量值

测量范围    0～1250μm

测量原理    涡流法

测量精度    ±（3%H+1.5）μm（零点校准）/±[（1-3）%H+1.5]μm（二点校准）