JW3308 手持式回损仪
一、产品概述
JW3308手持式回损仪设计用于测量各种光器件、
光链路的反射衰耗,控制光纤接头质量,在光纤安装和
系统运行的过程中,可测试光回损质量,是应用于现场的
Z优化解决方案。可分别用做光回损测试仪、光功率计、
光源,并具有数据存储功能。
二、技术指标
光回损测试 |
测试波长(nm) | 1310/1550 |
谱宽(nm) | <5 |
显示范围(dB) | 6~70 |
精度(dB) | ±0.5 |
分辨率(dB) | 0.01 |
光功率计 |
波长范围(nm) | 850 ~ 1650 |
校准波长(nm) | 850、 1300、 1310 、 1490、 1550 、 1625 |
检测器类型 | InGaAs |
显示模式 | dBm 、dB 、W |
显示范围(dBm) | -70 ~+6 |
Z大输入功率(dBm) | +6 |
分辨率(dB) | 0.01 |
精度(dB) | 0.3 |
光源 |
波长(nm) | 1310/1550 |
谱宽(nm) | <5 |
Z大输出功率(dBm) | -3 |
稳定度(dB,30min) | ± 0.05 |
调制频率(HZ) | CW, 270, 1K, 2K |