bowman美国膜厚测试仪
俗称镀层测厚仪,膜厚测试仪,X-RAY膜厚仪等等.
用途:检测金属镀层膜厚厚度的仪器,保证镀层厚度品质,减少电镀成本浪费.
产品副名称:应用范围较广的标准型镀层厚度测量仪.
* 技术指标型号:元素分析范围从铝(AL)到铀(U)。
* 一次可同时分析Z多24个元素或五层以上镀层。
* 元素分析检出限可达2ppm,分析含量一般为2ppm到99.9%。镀层厚度Z薄可达0.005um,一般在20um内(不同材料有所不同)。
* 小孔准直器(Z小直径0.1mm),测试光斑在0.2mm以内。
* 高精度移动平台(定位精度小于0.005mm)。
* 任意多个可选择的分析和识别模型。
* 尺寸:576 x 495x545 mm
* 重量:90 kg
* 标准配置开放式样品腔。
* 精密二维移动样品平台,探测器和X光管上下可动,实现三维移动。
* 双激光定位装置。
* 铅玻璃屏蔽罩。
* Si-Pin探测器。
* 信号检测电子电路。
* 高低压电源。
* X光管。
* 高度传感器保护传感器计算机及喷墨打印机。
: 舒翠
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