GW-165 贝尔实验室－高温老化试验室

高温老化室GW-165[贝尔实验室装备]

　高温老化室是针对高性能电子产品（如：机算机整机，显示器，终端机，车用电子产品，电源供应器，主机板、监视器、交换式充电器等）仿真出一种高温、恶劣环境测试的设备，是提高产品稳定性、可靠性的重要实验设备、是各生产企业提高产品质量和竞争性的重要生产流程，该设备广泛应用于电源电子、计算机、通讯、生物制药等领域。

*：设备规格及满足标准
1.内箱尺寸D3000mm×W2200mm×H2500mm
2.外形尺寸D3500mm×W2600mm×H2700mm
3.门洞尺寸 W2200mm×H2500mm

满足试验标准 GJB 150.3-1986 高温试验
GB/T2423.2-2001 试验B：高温试验方法
GB/T5170.2-1996 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法温度试验设备

第二：技术参数 
1.温度范围 ：RT+20℃～+300℃
2.温度波动度 ：±0.5℃（恒温时，既设备在稳定状态下，工作空间ZX点 温度随时间的变化量，即ZX点在30min内（每30s测试一次）实测Z高温度与 Z低温度之差的一半，以“±”表示，即温度波动度℃）
3.温度均匀度： ±2.5℃（RT+20～180℃时在距试验箱壁1/6尺寸布点检测,即设备达 到稳定后，在30min内（每30s测试一次）每次测试中实测Z高温度与Z低温度之差的算术平均值，即温度均匀度）.
4.温度冲高：≤3℃(程控时)