日本KETT LE-200J系列膜厚计(涂镀层测厚仪)详细介绍:
本仪器采用了磁性和涡流两种测厚方法,可无损的测量磁性金属基体(如铁、合金和硬磁性钢等)上非磁性覆层的厚度(如铜、铝、铬、珐琅、橡胶、油漆等)及非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上的非导电覆层的厚度(如珐琅、橡胶、油漆、塑料等)。
日本KETT LE-200J系列膜厚计(涂镀层测厚仪)技术参数:
规格型号 | LE-200J | LH-200J | LZ-200J |
测定对象 | 磁性金属上非磁性涂镀层 | 非磁性金属上绝缘层 | 磁性金属上非磁性涂镀层非磁性金属上绝缘层 |
测定范围 | 0~1500um 或0~60.0mils | 0~800um 或0~32.0mils | 0~1500um 或0~60.0mils |
测定精度 | <50um±1um , >50um±2% |
分 辨 率 | <100um 0.1um , >100um 1um |
功能统计 | 可设定上/下限数值,可分批统计Z大值、Z小值、平均值、标准差。 数据可存储,可连接电脑,内置打印机、即时打印 |
计量单位 | 公制、英制可自由切换 |
显示方式 | LCD液晶屏 |
操作面板 | 密封防水多功能数字键盘 |
随机附件 | 基体/校正标准片/电池/皮套/说明书/稳压电源/打印纸 |
电 源 | DV6V 5#碱性电池×6个(打印机另需4个),可接稳压电源 |
体 积 | 175mm(W)×245(mmD)×31mm(H) |
重 量 | 1100g |
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