基本性能
● 传感器设计实现了与开环噪音水平一样的闭环性能,用于大型样品前所未见的分辨率测试和针尖扫描AFM
● 显著减小基底噪音,能够在接触模式下以原子力水平成像,TappingMode™中少于30pm
● 漂移率小于每分钟200pm,产生无扭曲图像
优越的生产率
● 综合反馈对准工具带来快速优化的探针配置
● 高分辨率相机和X-Y配置带来快速GX的样品导航性能
● 新型ScanAsyst成像和带有默认试验模式的NanoScope®软件,将十年的知识精华融入这个预先配置设置中
的多功能性
●针尖和样品的开放性入口,可进行大量的标准
性和定制性实验
● 仪器和软件设计利用了所有当今和未来新进的先进的模式和技术
● 用户实用程序脚本提供了半自动测量和分析性能
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