---:韩光兵
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竭诚欢迎广大新老客户前来咨询洽谈谈,本公司将以Z热忱的服务和Z优惠的价格回馈大家.
光学测量装置KIF-FU100,KIF-FSA
KIF-FU100,KIF-FSA是一款安装于KIF-402系列干涉仪上的干涉条纹分析系统,主要用于通过扫描干涉条纹获取测试样本的波相位,以及显示和保存测量结果。
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省空间
采用本公司开发的压电控制器和笔记本电脑,大大节省了空间。
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测定速度的提升
改善了图像数据的读取以及解析算法,提升了测定速度。
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可自动校准
配上3轴压电载物台(选配件),可自动化进行0干涉条纹的校准作业,从而提高作业效率(球面测定时)。
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解析软件高机能化
更新为以自动校准机能为ZX的解析软件,可对应更精细的需求。
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数码变焦功能
使用数码变焦功能,可以以0.1的倍率在1倍到3倍内设定倍率,微小工件的确认也变得简单了。
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2D、3D彩色图像显示
通过2D彩图显示可确认波面相位以及横切面的形状。3D图像能更直观地显示波面相位。
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合格判断功能
设定规格值,在生产线上可轻松的进行合格判断。并且,还可以设定与客户定义像差相对应的规格值。
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可定制画面
具有保存、读取画面排版状态的功能,可设定适合使用场所以及产品的排版。
干涉条纹解析装置,干涉条纹解析软件 KIF-FU100,KIF-FSA:规格 |
型号 | KIF-FSA |
解析方式 | 条纹扫描方式 |
测定条纹条件 | 正弦波状强度分布的干涉条纹(不支持多重干涉的干涉条纹解析) |
干涉条纹显示图像尺寸 | 640×470(像素) |
再现性 | PV值:0.01λ(2σ)以下 RMS值:0.003λ(2σ)以下 |
解析功能 | PV、Rms、Pwr、As、Coma、Sa3以及Zernike系数的解析与显示 |
合格判断功能 | PV、Rms、Pwr、As、Coma、Sa3等的规格值设定与合格与否的显示 |
3轴压电载物台冲程(选配件) | 粗动:±3 mm(XYZ的各轴) 微动:12 μm(XYZ的各轴) |
使用环境 | 水平无震动的场所(地面震动±0.8/s²以下) 温度:23±3 °C 湿度:60%以下、无结露 |
* 因测定时的设置环境不同,可能发生机械性能不能充分发挥的情况。
* 本装置不保证溯源体系中的精度。
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工作参数设定功能
・ 产品名、单元名、注释
・ Fitting次数(3/4/9/16/25/36)
・ 像差清除(像差指定/Zernike系数指定)
・ 显示单位(λ、μm、nm、条纹)
・ 对Zernike系数的offset设定
・ 规格值(指定各像差以及用户定义式)
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解析结果显示功能
・ P-V、RMS、Pwr
・ 赛德尔像差(倾斜、焦点、像差AS、彗差、球面像差)
・ Zernike系数(3、4、9、16、25、36项)
・ 3维鸟瞰图、2维彩图
・ 横切面侧面像(X、Y方向、PV、RMS)
・ 合格判断结果
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文件输入输出功能
・ 工作参数的保存和读取
・ 条纹数据的保存和读取
・ 影面数据的保存和读取
・ 画面版面的保存和读取
・ 主窗口打印