半导体静电放电发生器介绍:
静电放电是人们生活中经常发生的一种现象。当这种放电引发的电弧电流和电磁波进入电气电子设备仪器的线路网中时,则有导致错误操作和损坏电子元件的危险。为此,很早开始,人们就围绕着IEC标准等展开了研讨,将涉及静电放电的抗扰性测试方法和规定,制定成规范化的标准。同时,Z近除对民生用设备仪器提出要求外,面向车载电子仪器提出的要求也在不断地升级。本仪器可用于模拟带电操作人员直接向电气电子设备仪器放电,或间接放电的抗扰性测试。
ESD-606G半导体静电放电发生器通过阻容套件的改变来满足标准 MIL-STD-883D METHOD3015.7、EIAJED-4701 ConditionB 和 EIAJED-4701 ConditionA 的测试要求。人性化设计、使用方便。
项 目 Item | MIL-STD-883D METHOD3015.7 IEC747-1 | EIAJED-4701 ConditionA |
输出电压 Output voltage | 0—8kV |
输出电压极性 Polarity | 正/负 Positive/Negative |
放电电容 Energy storage capacitance | 100pF±5% | 200pF±5% |
放电电阻 Discharge resistor | 1.5kΩ | 0 Ω |
工作形式 Operation modes | 单次 Single |
计数 Count |
放电次数设定Numbers of discharge | 1~9999 |
放电间隔Repetition | 0.1~9.9s |
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公司名称:深圳市华睿高电子技术有限公司/肖
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