固纬 GWinstek GUT-6000A数位IC测试仪固纬 GWinstek GUT-6000A数位IC测试仪_详细资料

产品信息

固纬 GWinstek GUT-6000A数位IC测试仪
GUT-6000A数位IC测试仪特性：
Loop 测试
自动搜寻 IC 编号功能
开机自我侦测诊断功能
过载保护功能
可量测之 IC 种类超过 1800 种
54/74 系列 TTL 及高速 CMOS
4000 及 4500 系列 CMOS
Z大可测 Pin 数 : 28 Pin
GUT-6000A数位IC测试仪技术参数

测试范围
54/74 系列 TTL 及高速 CMOS
4000 及 4500 系列 CMOS
55 及 75 系列 TTL
量测种类
约 1800 种
测试电压
5V DC
测试时间
高测试速度，平均 0.8 秒可完成一个 IC
使用电源
交流 110V/220V +10%, 50/60Hz
附件
电源线 x 1, 操作手册 x 1
尺寸及重量
335（宽） x 105（高） x 300（长） mm, 约 1.5 公斤
固纬IC测试仪选型表

机种
主要功能或用途
GUT - 6000C
数位IC测试器
GUT - 6600
掌上型数位IC测试器
GUT - 6001
类比IC测试器

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测试范围	54/74 系列 TTL 及高速 CMOS
	4000 及 4500 系列 CMOS
	55 及 75 系列 TTL
量测种类	约 1800 种
测试电压	5V DC
测试时间	高测试速度，平均 0.8 秒可完成一个 IC
使用电源	交流 110V/220V +10%, 50/60Hz
附件	电源线 x 1, 操作手册 x 1
尺寸及重量	335（宽） x 105（高） x 300（长） mm, 约 1.5 公斤

机种	主要功能或用途
GUT - 6000C	数位IC测试器
GUT - 6600	掌上型数位IC测试器
GUT - 6001	类比IC测试器

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