仪器用途:WP1型平面光栅摄谱仪是在200nm-800nm波段范围内作发射光谱分析的仪器。广泛应用于教学、地质、冶金、机械、石油化工等部门作光谱定量和定性分析。
平面反射光栅技术规格:
光栅线数 | 1200条/mm | 1200条/mm |
有效面积 | 50*30mm | 50*30mm |
闪耀波长 | 300nm | 570nm |
色散(nm/mm) | 一级 0.8 | 一级 0.8 | 二级 0.4 |
理论分辨本领 | 6*10E4 | 6*10E4 | 12*10E4 |
适用工作波段 | 200nm-600nm | 400nm-800nm | 200nm-400nm |
仪器特点:1、光学系统采用艾伯特垂直对称形式装置,彗差及象散可矫正到理想程度,在较长谱面范围内谱线清晰,结构均匀。2、仪器采用三透镜消色差照明方法,狭缝得到均匀照明,使同一条谱线黑度均匀。
3、仪器缝前的哈特曼光栏及三阶,九价减光板。
4、适用控制箱控制谱过程。
5、仪器配备直流电弧,交流电弧光源,以适应不同分析任务的需要。
6、仪器配置工作台,安装和操作方便。
仪器技术规格:
工作波段:200nm-800nm
仪器焦距:f=1050mm
谱板尺寸:240*90mm
相对孔径:D/f=1:25
狭缝指标:变化范围0.003-0.3mm,手轮格值0.001mm