XRF8 全反射X射线荧光分析仪
多元素同时分析：一次可分析近30种元素；
检出限低：Z低检出限：pg级（10-12g）；
Z低相对检出限：ng/mL级（10-9g））；
测量元素范围广：可以从11号元素Na到92号元素U；
样品用量少：μL、μg级。粉末样品、悬浮液样品、有平面的固体都可直接进行分析，Z低检出限达到ng/g量级。可以进行无损分析，也可进行无标样分析：
测量时间短：一般在100秒~1000秒；
输入功率小于500W；
自动化程度高，操作方便
全反射X射线荧光分析仪 仪器配置及性能指标
Z低检出限：pg级（10-12g）；
Z低相对检出限：ng/mL级（10-9g）；
重复性：≤3%（从常量到浓度为0.50mg/L~2.00mg/L）
稳定性：≤4%（从常量到浓度为0.50mg/L~2.00mg/L）
单次可同时分析元素数量：近30种；定量分析，同时可测量元素从Na~Uo
样品用量：μL、μg级；可以进行无损分析，也可进行无标准分析;测量时间：一般少于1000秒；激发功率：小于500W
