四探针导体半导体电阻率测量仪 金属半导体电阻率测量仪 导体半导体金属薄膜材料电阻测试仪
型号DL04-Sb100A-2
DL04-Sb100A/2为原S*100/1及S*100A/1的改进型。
由于金属块体材料的电阻和金属薄膜的电阻很低,他们的测量采用四端接线法。为了满足实际的需要,本仪器采用四探针法原理来实现对不同金属、半导体、导电高分子材料的电阻及电阻率的测量。可用于高校物理教育实验,对导体/半导体/金属薄膜材料的电阻及电阻率的测试及研究。本产品的电阻测量范围可达10-6—106Ω。
(使用环境5—40℃,相对湿度<80%,供电220V50Hz,为实验室环境使用)
SB100A/2由SB118直流电压电流源、PZ158A直流数字电压表、SB120/2四探针样品测试平台三部分组成。
lSB118直流电压电流源:是一台4½位的电压源及电流源,既可输出5µV—50V,5档可调电压,基本误差为±(0.1%RD+0.02%FS)又可输出1nA—100mA,5档可调电流,基本误差为±(0.03%RD+0.02%FS)详见本公司产品SB118。
lPZ158A直流数字电压表:具有6½位字长,0.1μV电压分辨力的带单片危机处理技术的高精度电子测量仪器,可测量0-1000V直流电压。基本量程的基本误差为±(0.002%RD+0.0005%FS),详见本公司产品PZ158A。
lSB120/2四探针样品测试平台:该测试平台是120/1测试平台的改进型。其有底座、支架、旋动部件、样品平台、四探针及接线板等组成。由于其整个结构及旋动方式都在原SB120/1的基础上作了很大的改进,故在高校的物理实验及科学研究总为导体/半导体/金属薄膜材料的电阻和电阻率的测试、研究提供了较大的方便。
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北京北信未来电子科技ZX
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:刘华
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