TT220 TT220覆层测厚仪_详细资料

产品信息

TT220覆层测厚仪是一种超小型测量仪，它能快速、无损伤、精密地进行磁性金属基体上的非磁性覆盖层厚度的测量。TT220覆层测厚仪广泛用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。TT220覆层测厚仪体积小、测头与仪器一体化，特别适用于工程现场测量。 TT220覆层测厚仪符合以下标准： GB/T 4956─1985 磁性金属基体上非磁性覆盖层厚度测量磁性方法 JB/T 8393─1996 磁性和涡流式覆层厚度测量仪 JJG 889─95 《磁阻法测厚仪》

测头类型

F

测量原理

磁感应

测量范围

0-1250um

低限分辨力

1µm（10um以下为0.1um）

探头连接方式

一体化

示值误差

一点校准（um）

±[3%H+1]

两点校准（um）

±[（1～3）%H+1]

测量条件

Z小曲率半径（mm）

凸 1.5 凹9

基体Z小面积的直径（mm）

ф7

Z小临界厚度（mm）

0.5

温湿度

0~40℃
20%RH～90%RH

统计功能

平均值（MEAN）、Z大值（MAX）、Z小值（MIN）、
测试次数（NO．）、标准偏差（S．DEV）

工作方式

直接方式（DIRECT）和成组方式（Appl）

测量方式

连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE）

上下限设置

无

存储能力

15 个测量值

打印/连接计算机

可选配打印机/不能连接电脑

关机方式

自动

电源

二节3.6V镍镉电池

外形尺寸

150×55.5×23mm

重量

150g

基本配置
主机
标准片一套（50um 100um 200um 500um 1000um）
铁基体
充电器

可选附件
TA230打印机

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TT220 TT220覆层测厚仪

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测头类型		F
测量原理		磁感应
测量范围		0-1250um
低限分辨力		1µm（10um以下为0.1um）
探头连接方式		一体化
示值误差	一点校准（um）	±[3%H+1]
	两点校准（um）	±[（1～3）%H+1]
测量条件	Z小曲率半径（mm）	凸 1.5 凹9
	基体Z小面积的直径（mm）	ф7
	Z小临界厚度（mm）	0.5
温湿度		0~40℃ 20%RH～90%RH
统计功能		平均值（MEAN）、Z大值（MAX）、Z小值（MIN）、测试次数（NO．）、标准偏差（S．DEV）
工作方式		直接方式（DIRECT）和成组方式（Appl）
测量方式		连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE）
上下限设置		无
存储能力		15 个测量值
打印/连接计算机		可选配打印机/不能连接电脑
关机方式		自动
电源		二节3.6V镍镉电池
外形尺寸		150×55.5×23mm
重量		150g