Surfix S统计型涂层测厚仪 Surfix S漆膜测厚仪

Surfix S漆膜测厚仪，Surfix S统计型涂层测厚仪为德国PHYNIX公司制造，可换8种碳化钨超耐磨测头测铁基和有色金属基上镀层和涂层。同屏显示统计数据.可存储前200测值,分辨率0.1μm。适于钢铁基体和有色金属基体上的涂镀层。耐表面温度60℃。

Surfix S 可换探头统计型测厚仪的特点：
1.可换8种碳化钨超耐磨测头测铁基和有色金属基上镀层和涂层
2.同屏显示统计数据.可存储前200测值,分辨率0.1μm
3.根据所选探头:精度可达±0.7μm+1%,读数或范围可达10mm
4.探头需另选购

德国phynix涂层测厚仪Surfix精密系列（分辨率0.1μm，量程1500μm）选型如下：
Surfix B F           铁基基本型
Surfix B N         非铁基基本型
Surfix B FN          两用基本型
Surfix PB F      一体铁基基本型
Surfix PB N    一体非铁基基本型
Surfix PB FN     一体两用基本型
Surfix F             铁基统计型
Surfix N           非铁基统计型
Surfix FN            两用统计型
Surfix P F       一体铁基统计型
Surfix P N     一体非铁基统计型
Surfix P FN      一体两用统计型
Surfix S B           基本型可换探头
Surfix S             统计型可换探头
Surfix Pro S     专业级膜厚仪可换探头