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MicroNano系列磁力显微镜/静电力显微镜

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产品信息 磁力显微镜（Magnetic Force Microscope -- MFM）：控制磁性探针在磁性样品表面进行逐行扫描,利用抬起模式进行二次成像，获得样品纳米尺度局域上磁畴结构及分布图。 静电力显微镜（Electrostatic Force Microscope -- EFM）：控制导电探针在样品表面进行逐行扫描，利用抬起模式二次成像，获得样品纳米尺度局域上静电场分布图。 其他指标请参考原子力显微镜

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