Surfix F 铁基涂层测厚仪

Surfix F铁基测厚仪，Surfix F铁基涂层测厚仪，Surfix F膜厚仪技术参数：
测量范围    0-1500?m,0 - 60mils
误差        ±（1?m+1%读数）
分辨率      0.1?m或小于读数的2%
显示        背光，字母加数字，10mm高，4位数字显示
基体 小面积  5mmX5mm
基体 小曲率  凸面：1.5mm 凹面：5mm
基体 小厚度  F型：0.2mm ,N型： 50?m
校准           厂家校准，零校准，校准箔校准
数据统计（统计型） 读数个数（ 多9999个），平均值，标准偏差， 大值和 小值
数据存储（统计型） 多200个测量数值,可单独调出
数据值（统计型）   上下限可调,声音报警