HIOKI日本日置LCR测试仪IM3533/IM3533-01_详细资料

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HIOKI日本日置LCR测试仪IM3533/IM3533-01
LCR测试仪IM3533/IM3533-01

选件
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概要选件 PDF样张升级
应用覆盖线圈&变压器生产到研发等诸多领域
基本精度±0.05％，测量范围广泛(DC,40Hz～200kHz，5mV～5V，10μA～50mA)。
在例如C-D和ESR这样的混合测量条件下，不间断测试，速度比以往产品快10倍。
内置的低阻抗高精度模式可有效测量低感应或铝电解电容的等效串联电阻。
(测量速度是以往产品3522-50的10倍，大大提高了反复性和稳定性)
专用模式，用于测量变压器线圈比率，互感系数和温度补偿DCR。
频率扫描测试(仅IM3533-01)
除标准0m/1m以外的2m/4m电缆设置。
内置比较器和BIN功能。
2毫秒的快速测试时间
本产品不标配测量探头和测试夹具。请结合应用单独选择和购买合适的测量探头和测试夹具。所有探头均带有一个1.5D-2V的同轴电缆。RS-232C接口连接：交互连接可使用交叉电缆。您可使用RS-232C电缆9637，不需要硬件控制器。

基本参数
IM3533 IM3533-01
测量模式 LCR，变压器测试(N,M,△L)，连续测试(LCR模式) LCR，变压器测试(N,M,△L)，分析仪(扫描测试)，连续测试(LCR/分析模式)
测量参数 Z, Y, θ, Rs (ESR), Rp, DCR (DC resistance), X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D (tanδ), Q, N, M, ΔL, T
测量量程 100mΩ～100MΩ,10个量程(所有参数根据Z定义)
可显示量程 Z,Y,Rs,Rp,Rdc,X,G,B,Ls,Lp,Cs,Cp:
± (0.000000 [单位] ～9.999999G [单位])
只有 Z和Y显示真有效值
θ: ± (0.000° to 999.999°), D: ± (0.000000 to 9.999999)
Q: ± (0.00 to 99999.99), Δ%: ± (0.0000% to 999.9999%)
基本精度 Z : ±0.05%rdg. θ: ±0.03°
测量频率
1mHz ～200kHz (1mHz ～10Hz步进)
测量信号电平 [输出阻抗]
V模式，CV模式：5mV～5Vrms,1mVrms
CC模式：10μA～50mArms,10μArms
[低阻抗高精度模式]
V模式，CV模式：5mV～2.5Vrms,1mVrms
CC模式：10μA～100mArms,10μArms
输出阻抗正常模式：100Ω,低阻抗高精度模式：25Ω
显示 5.7英寸触摸屏，彩色TFT，显示可设置ON/OFF
测量时间 2ms(1kHz,FAST,显示OFF，代表值)
功能 DC偏置测量，DC电阻温度补偿
(转换参考温度显示),比较器，BIN测量(分类功能),节点负载/补偿，记忆功能
接口 EXT I/O(处理器)，USB通信(高速)，USB存储
选件：RS-232C,GP-IB,LAN任选一
电源 100～240V AC，50/60Hz，Z大50VA
尺寸及重量 330mm W×119mm H×168mm D, 3.1kg
附件
电源线×1，操作手册×1，CD-R(包括PC指令和样本软件)×1
探头和测试治具
4端子探头L2000
DC~5MHz，1m长
4端子开尔文夹9140-10
DC~200kHz，50Ω，1m长

(近期发售)
镊形探头9143-10
DC~5MHz，50Ω，1m长

(近期发售)
测试夹具9261-10
DC~5MHz，50Ω，线缆连接型，1m长

(近期发售)
测试冶具 9262
直接连接型, DC～5 MHz
SMD测试冶具 9263
DC~5MHz，直接连接型，测试样品尺寸：1mm~10mm
SMD测试治具9677
用于侧面有电极的SMD
DC~120MHz，测试样品
尺寸：3.5mm±0.5mm
SMD测试治具9699
用于底部有电极的SMD
DC~120MHz，测试样品
尺寸：宽1.0~4.0mm，Z高1.5mm
PC通讯
GP-IB接口Z3000

RS-232C接口Z3001

LAN接口Z3002

GP-IB连接线9151-02
2m长

温度探头
针型温度探头9478
Pt100，前端φ2.3mm，1m长，防水构造

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