数字式四探针测试计 四探针测试计 半导体四探针检测仪 型号:DL10-1934B测量范围 电阻率:10-2~102Ω-cm;方块电阻:10-1~103Ω/□;电阻:10-3~9999Ω 可测半导体材料尺寸 直径:Φ15~100mm; 长(或高)度: ≤400mm 外形尺寸 主机 170mm(D)×130 mm(W)×50mm(H) 电源 功 耗:<1W; 电源适配器:输入:220V±10% 50Hz; 输出:DC5V±10%
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