能量色散X荧光分析仪/X荧光分析仪/能量色散X荧光检测仪 型号：TY/CIT-3000SM
适用于矿山、选矿厂、冶炼厂、水泥等企业在生产过程中对产品质量进行监测；
1.TY/CIT-3000SM产品配置：
采用进口的美国AMPTEK航天技术的SI（PIN）半导体探测器系列
采用独特数字脉冲采集电路及的电源管理技术
采用进口X光管
采用专用的X射线高压发生器
采用RS232串口通讯
采用精密的系统控制电路和数字处理电路
采用专有的分析算法软件模块V2.0A
配备品Pai电脑
配备常用的制样工具
配备专用的压片机
配备专用的测试样环
配备专用的测试硬标样
2.TY/CIT-3000SM 技术指标：
分析元素范围：Mg-U（主要是：Mg、Al、Si、P、S、Ca、Fe、Mn、Cu、Pb、Zn、Cr、Br、Cd）；
元素含量分析范围：1ppm -99.99%（采用1024道多道分析器，分析精度更高）；
采用美国航天技术的Si (PIN)半导体探测器计数，配合的数字脉冲处理技术；
测量范围：1－30KeV；
管压：0kV-30kV（激发源为 30KV-钨靶微型X射线管）；
管流：5μA-200μA；（可减少整机功耗和降低辐射）；
整机功率：50W；
整机能量分辨率：150±5eV；
检测时间： <200S；
工作环境温度：温度0-40℃；
工作环境相对湿度：≤99%（不结露）；
测量物质状态：固体、粉末均可检测，制样简单；
一体化设计，性能稳定，运行可靠，性价比高；操作简单，测量时间短；
