X5 精密显微熔点测定仪X4，X5，X6系列_详细资料

产品信息

产品说明

显微熔点测定仪系列
品Pai：中仪博腾

仪器简介：
物质的熔点是指该物质由固态变为液态时的温度。在有机化学领域中，熔点测定是辨认该物质本性的基本手段，也是纯度测定的重要方法之一。目视显微熔点测定仪是研究、观察物质在加热状态下的形变、色变及物质三态转化等物理变化过程的有力检测手段。

产品名称
型号
参数配置
数显
X4（XT4）
1、放大倍数：20X-40X 2、视场直径：10mm-5mm 3、样品量＜1mg/次4、工作距离105mm 5、显示方式:指针6、测量范围：测量范围室温-320℃ 7、测量精密度：室温∽200℃的误差±1℃ 200℃∽320℃的误差±1℃ 8、电源/功率:220V 50HZ/80W 9、控制方式：手动连续调节10、配置:控制箱，加热测温台，温度传感器，载玻片，换档体式显微镜，隔热玻璃，散热器，镊子
显微熔点测定仪（数显）
X4A(XT4A)
同上
倍率20X/80X室温～320℃±1℃数字显示ST-60体视显微镜。“A”型配LR01环形荧光照明光源。
精密显微熔点测定仪
X5
1、放大倍数：两档变倍体视镜,20X-40X 2、视场直径：11mm-5.5mm 3、样品量＜1mg/次 4、工作距离110mm 5、显示方式:LED数码管,温度四位(双排4位7段高度数码管显示) 继电器输出:时间比例,周期20秒 6、测量范围：测量范围室温-320℃(分辨率:0.1℃) 7、测量精度:±0.5℃(200℃以下);±1℃(200℃以上) 8、控制方式：自动调节及手动连续调节，PID控制 9、断电保护：断电后参数不丢失，重新加电后无须重设测量误差: 全量程±0.5% 10、测温方式：温度传感器，温度值LED数显，设定上下限报警，自动控温 11、电源/功率:AC220V 50HZ/250W 12、使用环境：温度：0℃～40℃ 湿度:≯85% 13、配置:控制箱,加热测温台,温度传感器,载玻片,换档体式显微镜,隔热玻璃,散热器,镊子
精密显微熔点测定仪
X
同上
倍率20X/80X室温～320℃，数字显示Z小值0.1℃，微电脑程序控温，上下限报警。“A”型配LR01环形荧光照明光源。
高精度显微熔点测定仪（数显、微电脑、高精度）
X6
1、放大倍数：变倍体视镜, 7X-90X 2.、视场直径：2.7mm - 33mm 3、样品量＜1mg/次 4、工作距离110mm 5、测量范围：测量范围室温-320℃ 6、测量精密度：±0.5℃,测量误差:全量程±0.5% 7、测温方式：温度传感器，温度值LED数显，设定上下限报警，自动控温,自动打印. 8、电源/功率:220V 50HZ/250W 9、可直接打印输出 10、配置:控制箱，加热测温台，温度传感器，载玻片，连续变倍体视显微镜，隔热玻璃，散热器，镊子，X6高精度数字熔点检测仪
高精度显微熔点测定仪（数显、微电脑、高精度）
X6A
同上
倍率7X-45X室温～320℃，数字显示Z小值0.1℃，微电脑程序控温、精确度±0.2℃，预定温度报警，自动打印测量结果连续变倍体视镜。“A”型配LR01环形荧光照明光源.
仪器结构原理：本仪器显微镜、加热台为分体结构,通过简单插入式专用热传感器相联接，装配简单,使用方便，显微镜用来观察样品受热后的反映变化及熔化的全过程。加热台用电热丝加热，并带有专用散热器,可快速降温。可用于载波片法测量，也可用毛细管测量熔点
主要特点：
1. 本仪器使用毛细管法进行测量。
2. 根据特殊要求，本仪器也可用载波片——载波片法进行测量。
3. 本仪器采用LED数字显示熔点温度值。
4. 本仪器结构简单可靠，使用方便。

5. 升温速率连续可调。

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