该设备通过石英晶体的检测频率和耗散，可以有效的分析芯片表面吸附的分子层状态、质量、厚度和粘弹性等性质。检测过程中无须对检测分子进行标记，适用于任何能形成薄膜的表面，如金属、高分子、化学改性表面等。石英晶体微天平在生物、医学和表面科学等研究领域被广泛应用。
| 仪器名称 | 石英晶体微天平 |
| 仪器型号 | E4 |
| 生产厂家 | 英国Biolin公司 |
| 技术参数 | 可检测粒径检测范围：0.6 nm- 10µm； 测量浓度范围：0.1 ppm； 具备四个样品检测池； 精确度可达0.5 ng/cm2。 |
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