NHJ2 半导体式表面污染检测仪

NHJ2是用于探测α和β射线的辐射监测仪表，采用硅半导体探测器。该仪表小巧轻便且探测效率高。该仪表具有自我诊断、通讯、存储等丰富的功能。
特点
●    采用半导体探测器，不需要定期交换探测器
●    可进行量程广且精度高的测量，测量范围为0~99990min-1
●    采用彩色有机EL显示屏，其画面明亮且视角宽，易于目视
●    能保存1200个测量值和时间点
●    具有自我诊断功能
●    测量值可通过USB接口存储到计算机
技术指标
●    测定射线:α 射线，β 射线
●    探 测 器:硅半导体
●    显示范围: 0～99990min-1
                      0～9999000counts
●    探测效率:α射线241Am 20%
                     β射线90Sr-90Y≥ 30%
●    时间常数:1，3，10sec，自动
●    数据存储:1200点
●    数据输出:USB 接口
●    电池寿命:7小时以上( 无显示)，
                     6小时以上 ( 连续显示)
●    电    源:碱性电池5号6节
                  镍氢充电电池(另选）
                  AC100～240V，AC适配器（ 另选）
●    工作温度: -5～+45℃/23～113˚F
●    工作湿度:≤90%RH(无结露）
●    尺    寸:120(W)×56(H)×293(D) mm
                  4.7(W)×2.2(H)×11.5(D) in.
●    质    量:约0.75 kg/1.65 lb.(不含电池)
●    依据标准 : IEC60325 (2002)