数字显微熔点测定仪/显微熔点测定仪 型号:DP/X-4 |
测温方式 | 温度传感器 | 测量误差 | 全程量±1% | 工作方式 | 温度值LED | 式样用量 | <1mg/次 | 数显 | 显微镜 | MTS300 | 手动控制 | 放大倍数 | 20~40 | 测量范围 | 室温~320℃ | 视场直径 | 10mm~5mm | JZ度 | 0.1℃ | 工作距离 | 105mm | 仪器配置 | 控制箱、加热测温台、温度传感器、载玻片 | MTS300两档体视显微镜、隔热玻璃、散热器、镊子 |
| | | | 2.其它
商品名称:介电常数测试仪/介电常数检测仪/介电常数测定仪
商品型号:DPSTD-A ![](http://item.yiqi.com/pic/ConPic/1/content2013102316153712838.jpg) | 介电常数测试仪/介电常数检测仪/介电常数测定仪 型号:DPSTD-A | DPSTD-A介电常数测试仪
介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷的一项重要的物理性质,通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε),可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素,为提高材料的性能提供依据;该仪器广泛应用于大专院校、科研院所对无机非金属新材料性能的应用研究。
介电常数测试仪主要技术指标
1.频率范围及刻度误差
范围:50KHz~50MHz共分七个波段,允许误差:+2%
1.1:50~150KHz; 1.2:150~450KHz
1.3:450~1500KHz; 1.4:1.5~4.5MHz
1.5:4.5~12MHz; 1.6:12~25MHz
1.7:25~50MHz;
2.Q值测量范围及误差
范围:5~500
误差:1)当频率从5~25KHz
量程5~50 +5%, 量程15~150 +5%,量程50~500 +7%
2)当频率从25~50MHz,所有量程均为+10%
3)△Q范围:-25 ~ 0 ~ +25。
3.电感测量范围及误差:范围:0.1μH~100mH,误差:+5%+0.01μH
4.试样尺寸
圆片形:厚度2+0.5mm,直径为Φ30~40mm(ε<12时);
Φ25~35mm(ε=12~30时)Φ15~20mm(ε>30时)。
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