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ZJD-C介电常数介质损耗测试仪
高频介质损耗测试系统由S916测试装置（夹具）ZJD-C型介质损耗及介电常数测试仪、数据采集和tanδ自动测量控件（装入ZJD-B或C、及LKI-1型电感器组成，它依据国标GB/T 1409-2006、美标ASTM D150以及国际电工委员会IEC60250的规定设计制作。系统提供了绝缘材料的高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)自动测量的解决方案。
《S916介质损耗装置》(测试夹具)是测试系统的核心检测部件，它由一个LCD数字显示的微测量装置和一对经精密加工的、间距可调的平板电容器极片组成。平板电容器极片用于夹持被测材料样品，微测量装置则显示被测材料样品的厚度。通过被测材料样品放进平板电容器和不放进样品时的Q值变化的量化，测得绝缘材料的损耗角正切值。从平板电容器平板间距的读值变化则可换算得到绝缘材料介电常数。S916介质损耗测试装置是本公司新研制的更新换代产品，精密的加工设计、精确的LCD数字读出、一键式清零功能，克服了机械刻度读数误差和圆筒形电容装置不可避免的测量误差。
基于串联谐振原理的《ZJD-B/C 介质损耗及介电常数仪》是测试系统的二次仪表，其数码化主调电容器的创新设计代表了行业的Z高成就，随之带来了频率、电容双扫描(B1 型)的全新搜索功能。该表具有先进的人机界面，采用LCD 液晶屏显示各测量因子：Q 值、电感L、主调电容器C、测试频率F、谐振趋势指针等。高频信源采用直接数字合成,测试频率10KHz-60MH 或200KHz-160MHz，频率精度高达1×10-6。国标GB/T 1409-2006规定了用Q 表法来测定电工材料高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)，把被测材料作为平板电容的介质，与辅助电感等构成串联谐振因子引入Q 表的测试回路，以获取Z高的测试灵敏度。因而Q 表法的测试结果更真实地反映了介质在高频工作状态下的特征。
介质损耗及介电常数仪的全数字化界面和微机控制使读数清晰稳定、操作简便。操作者能在任意点频率或电容值的条件下检测Q 值甚至tanδ，无须关注量程和换算，彻底摒弃了传统Q 表依赖面板上印制的辅助表格操作的落后状况，它无疑是电工材料高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)测量的理想工具。
数据采集和tanδ 自动测量控件（装入ZJDB 或C)，实现了数据采集、数据分析和计算的微处理化，tanδ 测量结果的获得无须繁琐的人工处理，因而提高了数据的精确度和测量的同一性，是人工读值和人工计算无法比拟的。
一个高品质因数（Q)的电感器是测量系统必不可少的辅助工具，关乎测试的灵敏度和精度，在系统中它与平板电容（S916）构成了基于串联谐振的测试回路。本系统推荐的感器为LKI-1 电感组，共由9 个高性能电感器组成，以适配不同的检测频率。
介质损耗测试系统主要性能参数:
平板电容极片Φ50mm/Φ38mm可选
频率范围:20KHz-60MHz/200KHz-160MHz
间距可调范围≥15mm
频率指示误差3×10-5±1个字
夹具插头间距25mm±0.01mm
主电容调节范围30-500/18-220pF
测微杆分辨率0.001mm
主调电容误差<1%，0.1pF
夹具损耗角正切值≦4×10-4（1MHz)
Q测试范围2～1023
沪公网安备 31011502008050号
