DP-WSP-6 四探针电阻率测试仪/四探针电阻率仪/四探针电阻率测定仪_详细资料

产品信息

【简单介绍】
DP-WSP-6型半导体电阻率测试仪是专用于各种半导体材料包括:片状硅料、晶体、晶体等的电阻率测定的设备,测定范围:0.01-199.99欧姆厘米，是生产厂家硅料分选测试的理想工具。
【详细说明】
/半导体电阻率测试仪/四探针电阻率测试仪/四探针电阻率仪/四探针电阻率测定仪/电阻率测试仪型号：DP-WSP-6

DP-WSP-6型半导体电阻率测试仪是专用于各种半导体材料包括:片状硅料、晶体、晶体等的电阻率测定的设备,测定范围:0.01-199.99欧姆厘米，是生产厂家硅料分选测试的理想工具。
1、主要技术指标:
电源：220V交流
可测晶片直径（Z大）Ф100mm,方形230×220mm
恒流源：电流量程为0.01～1mA连续可调，误差≦±0.5%。
数字电压表：量程：0.1～200mV,Z大分辨率：100μV
电阻率显示：三位半数字显示：小数点、极性、过载、自动显示0.01-199.99欧姆。厘米
输入抗阻：0.2mV和2mV量程：＞108Ω
测量精度：±0.1。
Z大电阻测量误差（按JJG508-87进行）：0.1Ω、1Ω、10Ω、100Ω≤±5%读数±2个字。
重掺检测误差（JJG508-87进行）：1Ω≤±1%、0.5Ω≤±0.5%、0.1Ω≤±0.1%
测量环境：温度23±2℃，相对湿度≤65%
2、操作程序：
  1、首先连好电源，打开后面板电源开关，电源指示灯亮，表示待机完毕。
  2、校准设备：厚度小于3.98mm取与要备测试硅材料厚度相同的硅材料标准样块校准电阻率测试仪，测试厚度大于3.98mm的硅材料可取厚度大于3.98mm的任一标准样块校准电阻率测试仪
  3、测试：用四探针接触硅材料，以探针压下三分之二为准，待仪器显示数字稳定即可，
  4校验：在测试过程中要求2小时用标准样块校准一次设备，
3、针组件;维护及注意事项:
  1、一般情况下,除了信号传输线的断裂引起的故障外, 针的维护主要包括针头的更换和针头的清理清洁工作
  2、维护后的安装及维护过程中,必须注意安装过程中的排线位置,按绿红黄黑（1234）位置排列。
2.
测振仪

商品名称：振动检测仪/振动测试仪/振动仪/振动表

商品型号：DP-5944型

振动检测仪/振动测试仪/振动仪/振动表   型号：DP-5944型
一、振动检测仪/振动测试仪/振动仪/振动表   概述

DP-5944型振动检测仪是一种数字化、袖珍式机械振动测量仪器，能方便地测得振动加速度、速度、位移等振动参数，主要性能符合ISO2954标准要求，可用来实现ISO2372、 ISO2373标准所规定的方法对旋转与往复式机器的振动进行可靠的定量评价，为机械设计与制造、军工、电力、设备管理、交通及环保部门对机器设备故障和老化信号进行在线检测和监测，进行产品质量控制，进行振动试验测量和振动控制等工作提供了极大的方便。

二、振动检测仪/振动测试仪/振动仪/振动表   主要技术指标

1、振动传感器：压电式加速度计，电荷灵敏度约：3pc/ms-2

2、测量范围：

加速度：a：0.1～199.9m/s2

f：5～10000Hz（-3dB）

速度：V：0.01～19.99cm/s

f：10～1000Hz

位移：d：1～1999μm

f：10～1000Hz

3、检波特性：真实有效值、峰值、峰峰值

4、输出显示：3位半LCD，设有Z大有效值保持功能。显示周期约1秒

5、模拟输出：φ3.5双芯插孔、满度输出2V有效值

6、准确度：±5%

7、电源：DC9V、6F22电池一节

8、尺寸：138mm×65mm×29mm

9、重量：290g
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北京亚欧德鹏科技有限公司

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