XRS-XM-200 表面形貌测量仪 /表面形貌测定仪

• X方向采用高精密滑动导轨作为水平移动的直线基准，导轨移动的距离采用高精度的光栅技术进行计量；

• Z方向立柱也采用高精密滑动导轨，并采用编码器进行测量，由电机-滚珠丝杠系统驱动；

• 可进行粗糙度和轮廓度的测量，可测量、驱动、计算、显示等，系统具有便携功能，可单独使用，灵活方便；

• 测量软件采用 Windows平台，采用国内新标准定义和评定，数学模型完整；

• 具有调整工作台可进行 Y向及各种摆角调整，用户可根据需要自由选择，调整使用方便，功能齐全；

• 测量参数多，可进行直线度、曲率偏差、双沟各种参数、平行差、高度等参数的测量，并可对机械件的表面形貌如粗糙度等严格按照国内标准进行测量。

• 测量精度高，差动电感传感器测量灵敏性可达 0.01μm以内，X向光栅灵敏性达0.5μm以内，Z方向可进行大量程高精度位移测量，精度达4μm；

• 测量控制部位多，不仅进行传统的 Z方向小位移测量和X方向的位移测量，还可进行Z方向的大位移测量；选用Y方向移动工作台可以测量零件的三维表面型貌。

• 采用微机控制，可手动或自动循环测量、自动消除安装误差、自动进行量程变换、直接显示所得形状及各种参数，并可打印输出，具有标准数据库存储数据。