GDAT-A 介电常数介质损耗测试仪

公司：北京中航时代仪器设备有限公司

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GDAT-A介质损耗及介电常数测试仪(简介)

高频介电常数测试仪用于测试电工材料的介电系数和损耗角正切值,也用来测试高频阻抗元器件（电感、电容和其他谐振组件）的品质因数即：Q 值。相对阻抗电桥法,高频震荡法的测试结果更真实地反映了材料器件在高频工作状态下的特性。



一、特点：

◆ 优化的测试电路设计使残值更小

◆ 高频信号采用数码调谐器和频率锁定技术

◆ LED 数字读出品质因数，手动/自动量程切换

◆ 自动扫描被测件谐振点，标频单键设置和锁定，大大提高测试速度





二、主要性能简介:

信号源频率范围 25KHz-50MHz

Q 测量范围 1-999，自动/手动量程切换

信号源频率覆盖比 2000 ：1

Q 测量误差 ≤5%±满度值的2%

信号源频率精度 1×10-4±1 个字，5 位有效数

Q 测量工作误差 ≤7%±满度值的2%

电感测量范围 0.1μ H-1000mH

调谐电容 主电容 40-500PF，微调电容 ?3PF

电感测量误差 ?5%±0.03μ H

调谐电容误差/分辨率 主电容?1%,微调电容0.2pf

标准测试频点 全波段任意频率下均可测试

Q 合格预置范围 1-999 声光提示

谐振点搜索 手动调谐

Q 量程切换 自动/手动

谐振指针 LED 数码显示

LCD 显示参数 Q 值、频率Hz







GDAT-A工频介电常数介质损耗测试仪

一、主要用于测量高压工业绝缘材料的介质损失角的正切值及电容量。其采用了西林电桥的经典线路。主要可以测量电容器、互感器、变压器等各种电工油及各种固体绝缘材料在工频高压下的介质损耗（tgδ）和电容量（ Cx）以，其测量线路采用“正接法”即测量对地绝缘的试品。由于电桥内附有一个2500KV的高压电源及一台高压标准电容器，并将副桥和检流计与高压电桥有机的结合在一起，所以本电桥特别适应测量各类绝缘油和绝缘材料的介损（tgδ）及介电常数（ε）。

桥体本身带有5kV/100pF标准电容，测量材料介损更为方便。

桥体内附电位跟踪器及指另仪，外围接线及少。

桥体采用了多样化的介损测量线路。



二、测量范围及误差

在Cn＝100pF R4＝3183.2（Ω）（即10K/π）时



测量项目 测量范围 测量误差

电容量Cx 40pF--20000pF ±0.5% Cx±2pF

介质损耗tgδ 0～1 ±1.5％tgδx±1×10-4

在Cn＝100pF R4＝318.3（Ω）（即1K/π）时



测量项目 测量范围 测量误差

电容量Cx 4pF--2000pF ±0.5% Cx±2pF

介质损耗tgδ 0～0.1 ±1.5％tgδx±1×10-4

Cx＝R4×Cn/R3

tgδ＝ω·Ｒ４·Ｃ４



三、高压电源技术特性

电压输出：0～2500V/50Hz

高压电流输出：0～20mA

内置标准电容器

电容量的名义值为100pF

tgδ小于5×10-5





GDAT-A介电常数介质损耗测试仪



高频介质损耗测试系统由S916测试装置（夹具）ZJD-C型介质损耗及介电常数测试仪、数据采集和tanδ自动测量控件（装入ZJD-B或C、及LKI-1型电感器组成，它依据国标GB/T 1409-2006、美标ASTM D150以及国际电工委员会IEC60250的规定设计制作。系统提供了绝缘材料的高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)自动测量的解决方案。



《S916介质损耗装置》(测试夹具)是测试系统的核心检测部件，它由一个LCD数字显示的微测量装置和一对经精密加工的、间距可调的平板电容器极片组成。平板电容器极片用于夹持被测材料样品，微测量装置则显示被测材料样品的厚度。通过被测材料样品放进平板电容器和不放进样品时的Q值变化的量化，测得绝缘材料的损耗角正切值。从平板电容器平板间距的读值变化则可换算得到绝缘材料介电常数。S916介质损耗测试装置是本公司新研制的更新换代产品，精密的加工设计、精确的LCD数字读出、一键式清零功能，克服了机械刻度读数误差和圆筒形电容装置不可避免的测量误差。



基于串联谐振原理的《ZJD-B/C 介质损耗及介电常数仪》是测试系统的二次仪表，其数码化主调电容器的创新设计代表了行业的Z高成就，随之带来了频率、电容双扫描(B1 型)的全新搜索功能。该表具有先进的人机界面，采用LCD 液晶屏显示各测量因子：Q 值、电感L、主调电容器C、测试频率F、谐振趋势指针等。高频信源采用直接数字合成,测试频率10KHz-60MH 或200KHz-160MHz，频率精度高达1×10-6。国标GB/T 1409-2006规定了用Q 表法来测定电工材料高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)，把被测材料作为平板电容的介质，与辅助电感等构成串联谐振因子引入Q 表的测试回路，以获取Z高的测试灵敏度。因而Q 表法的测试结果更真实地反映了介质在高频工作状态下的特征。



介质损耗及介电常数仪的全数字化界面和微机控制使读数清晰稳定、操作简便。操作者能在任意点频率或电容值的条件下检测Q 值甚至tanδ，无须关注量程和换算，彻底摒弃了传统Q 表依赖面板上印制的辅助表格操作的落后状况，它无疑是电工材料高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)测量的理想工具。





数据采集和tanδ 自动测量控件（装入ZJDB 或C)，实现了数据采集、数据分析和计算的微处理化，tanδ 测量结果的获得无须繁琐的人工处理，因而提高了数据的精确度和测量的同一性，是人工读值和人工计算无法比拟的。





一个高品质因数（Q)的电感器是测量系统必不可少的辅助工具，关乎测试的灵敏度和精度，在系统中它与平板电容（S916）构成了基于串联谐振的测试回路。本系统推荐的感器为LKI-1 电感组，共由9 个高性能电感器组成，以适配不同的检测频率。



介质损耗测试系统主要性能参数:

平板电容极片Φ50mm/Φ38mm可选

频率范围:20KHz-60MHz/200KHz-160MHz

间距可调范围≥15mm

频率指示误差3×10-5±1个字

夹具插头间距25mm±0.01mm

主电容调节范围30-500/18-220pF

测微杆分辨率0.001mm

主调电容误差<1%，0.1pF

夹具损耗角正切值≦4×10-4（1MHz)