XRS-BGS-6311 -X系列半导体激光器测试系统是一种不需附加手段, 在半导体激光器生产线环境条件下能直接、快速、准确测量各种输出形式(包括直接输出、准直输出和光纤耦合输出等)的半导体激光器件参量的仪器。具有测试参数范围广、功能齐全、自动化程度高、操作使用方便可靠、测试精度高等特点。尤其在大功率管芯直接输出激光参量测试方面是其它仪器所无法替代的。
该系统由探测器、采样器、角度控制器、信号处理器、计算机等单元组成。根据用户的测试要求选择配置。 可以测量: 激光输出功率、电流曲线(P-I)、管压降、电流曲线(V-I)、 阈值电流(Ith)、工作电流(Io)、工作电压(Vo)、斜率效率(Es)、微分电阻(Rd)、功率效率(Ep)、发射光谱(λ, δλ)。
同时，可以根据用户需求订制个性化产品。
入射窗孔径 | Φ15~25 mm |
激光功率测量范围 | 0~20W、0~200W、0~2000W、0~5000W可选 |
不确定度 | 5% |
工作电流测量范围 | 0~2A、0~50A、0~150A可选 |
不确定度 | 3% |
发散角测量范围 | -60~+60度 |
光谱测量范围 | 600nm~1000nm, 分辨率 0.4nm |
校准波长 | 808nm或用户指定的其它波长 |
电压测量范围 | 0~4V、0~50V、0~150V可选 |
驱动电源 | 连续电源 0~2A, 4V、0~50A,40V可选 |
脉冲电源 | 0~50A、0~150A, 200V可选 |
可根据用户需求订制 |
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