TSI3330 美国TSI 3330光学颗粒物粒径谱仪

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美国TSI 3330光学颗粒物粒径谱仪是基于气溶胶仪器设计的经验设计而成，使用简单轻便，对颗粒能够快速和准确的测量。
美国TSI 3330光学颗粒物粒径谱仪 
TSI3330型光学颗粒物粒径谱仪简单轻便，能够对颗粒物浓度和粒径谱分布进行快速和准确的测量。基于TSI40年气溶胶仪器设计的经验，
本款产品使用120度光散射角收集散射光强度和精密的电子处理系统，从而得到高质量和高精度的数据。
同时，TSI工厂严格的标定标准也确保仪器的精确性。3330不仅可以单独使用，而且还可以放入TSI的外场环境箱中在野外使用。
美国TSI 3330光学颗粒物粒径谱仪 产品特点：
· 0.5微米时粒径分辨率小于5%
· 粒径通道用户可调
· 检测粒径范围：0.3-10微米，多16通道
· 颗粒物粒径感应范围：0.5至25 mm
· 检测浓度范围：0-3000 个 /cm3
· 彩色触摸屏，直观的用户界面
· 完全满足ISO 21501-01/04要求
· 输入折射率和密度可以同时显示颗粒物数浓度和质量浓度
· 收集的采样膜可进行称重测量和化学分析
· 电池电量可供20小时的操作
· 多可存储30000个数据
· 记录每个样品的温度和压力
美国TSI 3330光学颗粒物粒径谱仪 技术参数
测量原则 ：
120°光散射和滤膜采样
浓度限制：
Z高3,000个/ cm3 （3,000,000个/L）
质量浓度 ：
0.001-275,000 mg/m3
颗粒物粒径：
检测粒径范围：0.3-10 mm 
粒径分辨率：0.5mm时5%（符合ISO 21501-01/04）
粒径通道 ：多16通道，用户可调