一、概述 MC-2000C型涂层测厚仪(镀层测厚仪)测量范围:0~5000um,是高新技术的结晶,它采用单片机技术,精度高、数字显示、示值稳定、功耗低、操作简单方便、触摸按键、单探头全量程测量、体积小、重量轻;且具有存储、读出、统计、低电压指示、系统校准,其性能达到当代国际同类仪器的先进水平。
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