半导体中空玻璃露点仪 中空玻璃露点仪 型号:HAD-ZK-I
| 一、 用途 | 露点仪是根据中华人民共和国国定标准GB/T11944-2002《中空玻璃》设计研制的中空玻璃专用的检测仪器。使用于中空玻璃、真空玻璃及密封玻璃制品的露点检测。广泛用于玻璃深加工企业的质量控制和各级质量监督检测部门。 | 二、 仪器结构与工作原理 | 本仪器由低温测试头和制冷机组组成,通过测试头和被检测样品的紧密接触,使样品表面局部冷却,当达到一定温度后,内部水气在冷点部分结露或结霜。露点仪主要检测样品在某一温度下是否结露或结霜。 | 三、 规格及主要技术参数 | 1、低温测试头表面直径:50mm。 | 2、测温范围:-45-0℃ 准确度:0.5% | 3、工作电压:220伏 | 4、使用环境:温度0-50℃ | 四、设备清单 | 1.制冷主机 1套 | 2.低温测试头 1个 | 3.真空吸盘 1个 | 4.产品合格证 1份 | 5.产品说明书 1份 |