RHA-GSZ-HP-501 四探针探头 探头

四探针探头是一种专门测量半导体薄层电阻(面电阻)的方块电阻测试仪配用的四探针测试探头，可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜)，金属薄膜……等同类物质的薄层电阻。
四探针探头 探头 型号：RHA-GSZ-HP-501
四探针探头是一种专门测量半导体薄层电阻（面电阻）的方块电阻测试仪配用的四探针测试探头，可用于测量一般半导体材料、导电薄膜（ITO透明氧化膜），金属薄膜……等同类物质的薄层电阻。

◆ 特性及规格：

1 特制之手握式探笔 2 球形探针、镀金探针有效接触被测材料及保护薄膜不被损伤 3 探头带抗静电模块有效防止方块电阻测试仪采集数据集成模块烧坏 4 探头使用寿命长 5 探针间距：1mmm、1.59mm、3.8m；偏差≤2%；游移率≤0.3%；绝缘电阻≥500MΩ

型号 （Model）	曲率半径 （Radius）	压力 （loads）	探针间距 （spacing）	探针排列 （Arrangement）
GSZ-HP-501	0.5mm	100g	3.8mm	直线

多功能激光椭圆偏振仪/椭圆偏振仪 型号:RHA-WJZ-Ⅱ
本仪器以分光计为实验平台，不但可与我厂定型产品配套，还可以与其它厂家生产的仪器配用。技术参数：1、测量透明薄膜厚度范围0-300nm，折射率1.30-2.49 2、起偏器、检偏器、1/4波片刻度范围0°-360°，游标读数0.1°3、测量精度：±2nm.4、入射角ψ=70°，K9玻璃折射率n=1.515.5、消光系数：0，空气折射率1，配有光电探头，检流计.(本型号不含分光计主计)
分光计/分光仪 型号:RHA-JJY-1
物镜焦距：168㎜ 通光口径：φ22㎜
放大倍数：7× 狭缝可调范围：0-2㎜
刻度范围：0-360° 度盘格值：30′
游标盘读数精度1′
光源采用绿色发光二级管，平行光管两侧分别装有固定可调支架，防止镜管折坏。
北京润恒奥仪器仪表设备有限公司
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