RHA-TZ-JNPY-100 胚芽米机/砻谷机/碾米机

胚芽米机/砻谷机/碾米机 型号：RHA-TZ-JNPY-100
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功能特点：
1 体积小，结构紧凑，布局合理，搬运维修简单方便。
2 出米率高，胚芽保存率高达80%。
3 防尘性好，噪音小，适合现场操作。
4 稻谷一次出米，数字化控制，操作简单，易学易懂。
5 使用220V通用电源，安装方便，耗电低。
产品技术参数：
产品型号：TZ-JNPY-100
整机功率：2.2kw
电机功率：2.2kw
电机转速：1400r/m
适应电源：220V
产----量：100-150kg/h
外形尺寸：510×510×975mm
机器重量：120kg
半导体电阻率测试仪/电阻率测试仪/半导体电阻率测定仪(含探头和测试架）　型号：RHA-HHY8-BD-86A
RHA-HHY8-BD-86A型半导体电阻率测试仪是我厂推出的新的普及型半导体电阻率测试仪器，本仪器是根据四探针原理，适合半导体器材厂，材料厂用于测量半导体材料（片状、棒状）的体电阻率，方块电阻（簿层电阻），也可以用作测量金属薄层电阻，经过对用户、半导体厂测试的调查，根据美国ASTM标准的规定，在电路和探头方面作了重大的修改和技术上的许多突破，它更适合于半导体器材厂工艺检测方面对中值、高阻硅、锗材料方块电阻和体电阻率的测量需要，成为普及型的电阻率测试仪，具有测量精度高，稳定性好，输入阻抗高，使用方便、价格低廉等特点。
仪器主要技术指标：
1． 测量范围：电阻率10-3—103Ω-cm，分辩率为 10-4Ω-cm ，可扩展到105Ω-cm
方块电阻10-2—104Ω/□，分辩率为10-3Ω/□，可扩展到106Ω/□
薄层金属电阻10-4—105Ω，分辩率为10-4Ω
2.可测半导体材料尺寸：直径Φ15—Φ125mm； 长度：150mm(可扩展500mm)
3.测量方式：轴向、断面均可
4．数字电压表：（1）量程：20mV(分辩率：10μV)、200mV、2V
（2）测量误差：±0.3%读数±1字
（3）输入阻抗：大于108Ω
（4）显示3 1/2 位红色发光二极管（LED）数字显示
0---1999具有极性、过载、小数点、单位自动显示
5．恒流源：由交流供电，具有良好的防泄漏隔离功能
（1） 直流电流：0—100mA连续可调
（2） 量程：10μA、100μA、1mA、10mA、100mA
（3） 分辩率：10nA、0.1μA、1μA、10μA、0.1mA
（4） 电流误差：±0.3%读数±2字
6．电性能模拟考核误差：<±0.3%符合ASTM指标
7．测试探头：（1）探针机械游移率：± 0.3% 符合ASTM 指标
8．电源：交流220V±10% 50HZ或60HZ 功率消耗< 30W
9．电气箱外形尺寸：119×440×320mm
数字式四探针测试仪/四探针测试仪/数字式四探针检测仪　型号：RHA-HHY8-SZT-2000
RHA-HHY8-SZT-2000型数字式四探针测试仪是根据四探针测试原理研究成功的多用途的综合测量装置，它可以测量棒状、块状
半导体材料的电阻率和半导体扩散层的薄层电阻进行测量，可以从10-6--105Ω—cm全量程范围检测硅的片状、棒状材料的电阻、薄层电阻，是硅材料质量监测的必需仪器。
仪器为台式结构，分为电气箱、测试架两大部分，用户可以根据测试需要安放在一般工作台或者专用工作台上，测试架由探头及压力传动机构、样品架组成，耐磨和使用寿命长的特点。探头内设有弹簧压力装置，压力从0—2Kg连续可调，测试架设有手动和电动两种装置供用户选购。
仪器电气箱主要由高灵敏的直流数字电压表和高稳定的恒流源组成，测量结果由数字直接显示，仪器有自校量程，可以方便地对仪器的电气性能进行校验。
仪器具有测量精度高、灵敏度高、稳定性好、测量范围广、结构紧凑、使用方便等特点，仪器适用于半导体材料厂、器件厂、科学研究部门、高等院校，对半导体材料的电阻性能测试及工艺检测。
仪器主要技术指标：
1． 范围：电阻率10-4—103Ω—cm，可扩展至105Ω—cm，分辩率为10-6Ω—cm
方块电阻10-3—103Ω /□
电阻10-6—105Ω
2． 可测半导体尺寸：直径Φ15—150mm
3． 测量方式：轴向、断面均可（手动测试架）
4． 数字电压表（1）量程0.2mV、2mV、20mV、200mV、2V
(2)测量误差 0.2mV档±（0.3%读数+8字）
2 mV档以上±（0.3%读数+2字）
(3)输入阻抗0.2mV、2mV挡105Ω
20mV档以上>108Ω
(4)显示3 1/2位数字显示，0—1999
具有极性和过载自动显示，小数点、单位自动显示
5． 恒流源：（1）电流输出：直流电流0—100mA连续可调，由交流电源供给
（2）量程：10μA、100μA、1mA、10mA、100mA 五档
（3）电流误差：±（0.3%读数+2字）
6．四探针测试探头 （1）探头间距：1mm (2)探针机械游率：±0.3%
(3) 探针：Φ0.5mm (4)压力：可调
7. 测试架：
（1）手动测试架：探头上升及下降由手动操作，可以用作轴向和断面的单晶棒和硅片测试。
（2）电动测试架：探头的上升和下降由电动操作，设有自动控制器控制，探头上升时间1S—99S可调，探头下降时间1S—99S可调，压力恒定可调（由砝码来设定）同时设有脚踏控制装置由脚踏开关控制探头上下运动。
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