1.电磁辐射监测仪 辐射监测仪 电磁辐射测试仪 型号:FS-N997B
一、产品技术指标
1、该产品工作范围为:工频(5Hz-100KHz)射频(100KHz-40GHz),可实现低频率测量与高频率测量
2、0.05v/m-1000v/m大动态电场测量
3、电磁场合一增强型探头
4、免费软件更新
5、主动鉴别污染源频率
6、算术平均,RMS平均,空间平均三种平均模式可选
7、扩展功能:可扩展
8、随主机配件:主机--场强测量,6F22,9V电池
9、尺寸:132*69*29 电磁辐射监测仪 辐射监测仪 电磁辐射测试仪 型号:FS-N997B
二、产品操作说明
1. 按下电源开关,设定LOW/HIGH按纽,LOW为低频率测试(V/M),HIGH为高频率测试(UW/CM2),根据自己的需要选好档位并准备测量。
2. 手拿仪表逐渐接近电磁辐射物体,开始测量即可。
2.差热分析仪 /差热检测仪 型号:NJD/DZ3331
产品介绍:
差热分析是在程序控制温度下,测量物质与参比物之间的温度差与温度关系的一种技术。差热分析曲线是描述样品与参比物之间的温度(△T)随温度或时间的变化关系。在DTA试验中,样品温度的变化是由于相转变或反应的吸热或放热效应引起的。如:相转变,熔化,结晶结构的转变,沸腾,升华,蒸发,脱氢反应,断裂或分解反应,氧化或还原反应,晶格结构的破坏和其他化学反应。
技术参数:
1. 温度范围: 室温~1350℃
2. 量程范围: 0~±2000μV
3. DTA精度: ±0.1μV
4. 升温速率: 1~80℃/min
5. 温度分辨率: 0.1℃
6. 温度准确度: ±0.1℃
7. 温度重复性: ±0.1℃
8. 温度控制: 升温:程序控制 可根据需要进行参数的调整
降温:风冷 程序控制 可选配 半导体冷却系统、液氮冷却系统 等
恒温:程序控制 恒温时间任意设定
9. 炉体结构: 炉体采用上开盖式结构,代替了传统的升降炉体,精度高,易于操作
10. 气氛控制: (选配)气体流量计,气氛转换装置
11. 数据接口: 标准USB接口 配套数据线和操作软件
12. 主机显示: 24bit色 7寸 LCD触摸屏显示
13. 参数标准: 配有标准物,带有一键校准功能,用户可自行对温度进行校正
14. 基线调整: 用户可通过基线的斜率和截距来调整基线
15. 工作电源: AC 220V 50Hz
3.三目正置型金相显微镜/三目金相显微镜 型号:HAD/MM-1本系统是将精锐的光学显微镜技术、先进的光电转换技术、的计算机图像处理技术地结合在一起而开发研制成的一项高科技产品。可以在计算机显示器上很方便地观察金相图像,从而对金相图谱进行分析,评级等,对图片进行输出、打印。
三、技术参数 | | |
1.目镜
类别 | 放大倍率 | 视场直径(mm) | 平场目镜 | 10× | ф18 | 16× | ф11 | 2.物镜
光学系统 | 放大倍率 | 数值孔径(na) | 工作距离(mm) | 干燥 | 4× | 0.1 | 22 | 10× | 0.25 | 6.8 | 40×(弹) | 0.65 | 0.53 | 63×(弹) | 0.85 | 0.2 | 3.机械筒长:160mm
4.物象共轭距离:195mm
5.同轴式粗微动调焦机构
调焦范围:40mm
微动格值:0.002mm
6.机械载物台面积:130×122mm2
移动范围:
纵向:30mm
横向:70mm
游标格值:0.1mm
7.双目瞳距调节范围:55-75mm
8.滤色片:淡蓝、淡黄、淡绿
9.照明:落射光和透射光,可调光亮度。 |
一、用途:
透反射金相显微镜主要适合电子、冶金、化工和仪器仪表行业用于观察透明、半透明或不透明的物体,即要透射光又要反射光照明的的物体,如、集成块、印刷电路板、液晶板、薄膜、纤维、纺织、镀涂层以及其它非金属材料,也适合医药、农林、GA、科研部门作观察分析用。
二、系统简介
本系统是将精锐的光学显微镜技术、先进的光电转换技术、的计算机图像处理技术地结合在一起而开发研制成的一项高科技产品。可以在计算机显示器上很方便地观察金相图像,从而对金相图谱进行分析,评级等,对图片进行输出、打印。
三、系统组成
电脑型金相显微镜(HAD-MM-1C): 1、金相显微镜 2、适配镜 3、摄像器(CCD) 4、采集卡 5、计算机(选配)
数码相机型金相显微镜(HAD-MM-1D): 1、金相显微镜 2、适配镜 3、数码相机
温馨提示:以上产品资料和图片全都是按照顺序相对应的