平均粒度测定仪 型号;XRS-WLP-205
XRS-WLP-205平均粒度测定仪是利用空气透过原理而制成的测量各种材料粉末体表面积平均径的仪器,又称费氏仪.该仪器是HAD-WLP-202型仪器的改进型,
主要技术指标:
(1)测量范围 0.2-50μm(微米)
(2)空隙度范围:0.25-0.40, 0.40-0.80, 0.80-0.95
(3)重复性 ±3%
(4)电源 ~220V±22V
(5)功率 30W
(6)环境温度 25±10°C
(7)环境湿度 相对湿度 < 80%
(8)重量 18kg
(9)外形尺寸 735×414×244mm
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