SIR测试系统 离子迁移检测仪试验装置

东莞市赐金电子科技有限公司主要代理日本J-RAS离子迁移设备、低阻测试仪；HITACHI 恒温恒湿、冷热冲击测试仪、快速温变箱；HAST等设备，参与了多个大型PCBZY实验室、第三方检测机构等众多设备投标、建设。

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SIR测试系统 离子迁移检测仪试验装置

可对离子迁移・绝缘电阻值进行高精度・高信赖性・GX率的评价。
从当今的地球・市场环境来看，省能源・铅/无卤素・小型轻量・低价格・高信赖等观点出发的，
新素材・新实装方法的研究开发・评价方法的重估是必须的。
J-RAS公司把握市场的需要，为您提供容易操作而且可以进行高信赖性评价试验的，
新时代离子迁移实验装置 ECM-100系列。

是一种信赖性试验设备，原理为印刷电路板上给予一固定的直流
电压（BIAS VOLTAGE）,经过长时间的测试（1～1000小时）并观察线路是否有瞬间短路的
现象发生（ION MIGRATION）,并记录阻抗变化状况，故又叫做CAF试验，绝缘阻力电阻试验，或者是OPEN/SHORT试验，我们将其统称为绝缘劣化试验。（ION MIGRATION TESTING）
适用规格：JPCA-ET01-2001
项目 规格・性能・其他
筺　体 型式 ECM-100/40-n　　　　　(n:Channel数) ECM-100/100-n　　　　　　(n:Channel数)
 筺体型式 40CH型（4计测组合） 100CH型（10计测组合）
 筺体寸法 265W×330.3D×405H（突起部除外） 417.4W×330.3D×405H（突起部除外）
 消費电力 大约70VA（4计测组合实装時） 大约130VA（10计测组合实装時）
 重量 大约16kg（4计测组合实装時） 大约25kg（10计测组合实装時）
 使用电源 AC100V　50/60Hz　
计测　组合 计测Channel数 10CH
 计测电阻值范围 2kΩ～10TΩ
 DCbias印加 电压范围 2范围　（1.0～30.0V，30.1～300.0V）
  电压范围设定 1组（5CH）
  电压级别设定 Channel个别
  设定分解能 0.1V
  设定精度 ±〔0.3％(F.S.)+0.5〕V
  输出电流 700μA／CH
 DCbias计测 计测范围 2范围（0～33V、0～330V）
  计测精度 ±〔0.3％(F.S.)+0.5〕V
  计测分解能 0.1V～（整数+小数点以下１行表示）
  AD转换器 24bits⊿∑AD转换器／CH
  计测速度 16msec／10CH
 电流计测 计测方式 CHANNEL个别HIGH-SIDE电流计测方式
  计测范围 5范围（～500μA，～50μA，～2.5μA，～125nA，～6.25nA）
  计测范围设定 CHANNEL个别指定 或者　自动范围
  计测精度 ±0.3％（F.S.）
  计测分解能 1pA～（有効数字4行表示）
  AD转换器 24bits⊿∑AD转换器／CH
  计测速度 16msec／100CH
Ｃ　Ｐ　Ｕ　组合 制御Channel数 5～100CH（5Channel単位）
 数据收录 试验制御単位 1组（5CH）
  试验设定小时 1分～9999小时
  收录间隔（定期） 1分～60分
  收录间隔（ECM发生時） 16msec
  记录媒体 Compact flashcard
 其他 主PC通信机能 LAN接触口×1
  环境试验机通信机能 RS-232C接触口×2
  外部输入1 接点输入×4　（联动装置，紧急停止制御可）
  外部输入2 电压输入(1-5V)×2，电流输入(4-20mA)×2　（温度・湿度记录可）
  自动校正 bias输出補正，異常leak电流检测
计测线 TRIAXIAL线　（耐热温度：200度，被膜材质：特氟隆树脂）