ROHS检测仪 合金分析仪 镀层测厚分析仪

ROHS检测仪 卤素分析仪 合金分析仪 镀层测厚分析仪

 

EXF-10A ROHS检测仪

是一款经济、实用、操作简便的X射线荧光光谱仪；对铅（Pb）、汞(Hg)、镉(Cd)、铬(Cr)、溴(Br) 等元素有很好的检测下限以及精度。

性能优势：

可测试粉未、固体、液体

上照式：可满足各种形状样品的测试需求

准直器和滤光片：多种准直器和滤光片的电动切换，满足各种测试方式的应用

高分辨率探测器：提高分析的准确性

采用新一代的高压电源和X光管：性能稳定可靠，高达50W的功率实现更高的测试效率

测试时间：60-300秒

仪器配置：

Si-Pin探测器

信号检测电子电路

高低压电源

大功率X光管

计算机及喷墨打印机

 

技术参数：

 

元素分析范围从硫（S）到铀（U）

分析检出限可达ppm

分析含量一般为1ppm到99.99％

多个可选择的分析和识别模式

相互独立的基体效应校正模型

多变量非线性回归程序

温度适应范围为15℃至30℃

电源：交流220V±5V,建议配置交流净化稳压电源

能量分辨率：139±5eV

外观尺寸： 670(W)x470(D)x370 (H)mm

样品腔尺寸：520(W) mm ×370(D) mm×105(H)mm

重量：60Kg

 

应用领域：

RoHS检测分析

地矿与合金（铜、不锈钢等）成分分析

金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定

主要用于RoHS指令相关行业、电镀行业。

 

 

EXF-5500F 合金分析仪

性能特点:

 

GX超薄窗X光管，指标达到国际先进水平

针对合金的测试而开发的专用配件

SDD硅漂移探测器，良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较高的峰背比

自动稳谱装置保证了仪器工作的一致性；

高信噪比的电子线路单元

针对不同样品自动切换准直器和滤光片，免去手工操作带来的繁琐

多参数线性回归方法，使元素间的吸收、增应得到明显的YZ；

内置高清晰摄像头

液晶屏显示让仪器的重要参数（管压、管流、真空度）一目了然

 

标准配置：

 

合金测试GX超薄窗X光管

超薄窗大面积的原装进口Si-Pin探测器

光路增强系统

高信噪比电子线路单元

内置高清晰摄像头

自动切换型准直器和滤光片

自动稳谱装置

三重安全保护模式

相互独立的基体效应校正模型

多变量非线性回归程序

整体钢架结构，力度可靠的保证

19寸的液晶屏

外观尺寸： 670(W)x470(D)x370 (H)mm

样品腔尺寸：520(W) mm ×370(D) mm×105(H)mm

重量：60Kg

 

技术指标：

 

测量元素范围：从钠（Na）到铀（U）

元素含量分析范围： ppm—99.99%（不同元素，分析范围不同）

同时分析元素：一次性可测几十种元素

测量时间：60秒-300秒

能量分辨率为：（139±5）eV

管压：5KV-50KV

管流：50uA-1000uA

 

应用领域：

检测以铜合金、铁合金、镍合金为主的合金类产品。

 

 

EXF-5600L ROHS卤素测试仪

性能优势：

 

可测试粉未、固体、液体

上照式：可满足各种形状样品的测试需求

准直器和滤光片：多种准直器和滤光片的电动切换，满足各种测试方式的应用

移动平台：精密的自动移动平台，方便客户用鼠标选择定位测试点。

高分辨率探测器：提高分析的准确性

采用新一代的高压电源和X光管：性能稳定可靠，高达50W的功率实现更高的测试效率

测试时间：60-300秒

 

仪器配置：

 

精密移动样品平台

Si-Pin探测器

信号检测电子电路

高低压电源

大功率X光管

计算机及喷墨打印机

 

技术参数：

 

元素分析范围从硫（S）到铀（U）

分析检出限可达ppm

分析含量一般为1ppm到99.99％

多个可选择的分析和识别模式

相互独立的基体效应校正模型

多变量非线性回归程序

温度适应范围为15℃至30℃

电源：交流220V±5V,建议配置交流净化稳压电源

能量分辨率：139±5eV

外观尺寸： 670(W)x470(D)x370 (H)mm

样品腔尺寸：520(W) mm ×370(D) mm×105(H)mm

重量：60Kg

 

应用领域：

 

RoHS检测分析

地矿与合金（铜、不锈钢等）成分分析

金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定

主要用于RoHS指令相关行业、电镀行业。

 

 

EXF-5700CX 镀层测厚分析仪

性能特点：

 

满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求

φ0.2mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求

高精度移动平台可精确定位测试点，重复定位精度小于0.01mm

鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点

高分辨率探头使分析结果更加JZ

良好的射线屏蔽作用

 

技术指标：

 

型号：EXF-5700CX

元素分析范围从硫(S)到铀（U）。

同时可以分析30种以上元素，五层镀层。

分析含量一般为ppm到99.9% 。

镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）

任意多个可选择的分析和识别模型。

相互独立的基体效应校正模型。

多变量非线性回收程序

度适应范围为15℃至30℃。

电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。

外观尺寸： 670(W)x470(D)x370 (H)mm

样品腔尺寸：520(W) mm ×370(D) mm×105(H)mm

重量：60kg

 

标准配置：

 

开放式样品腔。

精密二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动。

双激光定位装置。

铅玻璃屏蔽罩。

Si-Pin探测器。
信号检测电子电路。

高低压电源。

X光管。

高度传感器

保护传感器

计算机及喷墨打印机

应用领域

黄金，铂，银等贵金属和各种首饰的含量检测.

金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。

主要用于贵金属加工和首饰加工行业；银行，首饰销售和检测机构；电镀行业。