半导体材料微纳米极粗糙度、三维形貌测量仪

产品介绍

usprint全自动晶元检测系统是专门为半导体产业的bump检测而设计。能够自动检测八寸晶元。bump的高度、直径、体积、形状以及平面度都能得到纳米级精度的量测。

usprint采用全自动检测系统，在汽车行业，YL技术，微电子或半导体行业在范围内的质量保证。

以超高速进行灵活的三维表面检测

usprint全自动晶元检测系统能够与usprint传感器的的优点结合起来，具有模块化设置，可单独适于测量任务。

测量系统的工作原理采用非常高的扫描速度，这是理想的量产速度。

同时，它提供了可靠的3D测量数据和表面或材料的独立特性。

usprint软件包含一些复杂的图像处理算法的各种检查任务和用于处理表面大量的表面数据采集过程的详细程序。

产品优势

1.非接触式高速区域扫描

2.测量精度

3.模块化设置个性化的解决方案

4.测量范围广

5.全自动测量

6.高数值孔径

7.独立表面性能研究

8.便捷操作

应用领域

A.电子设备

B.半导体

C.YL

D.金属/力学

E.汽车

F.玻璃/光学

G.纸张

曼戈斐光学样品免费检测，提供详细检测报告
曼戈斐光学专业销售光学测量仪 ,可以检测粗糙度,几何形状,平整度,磨损度,
轴承比率等,提供灵活的共聚焦3D显微镜测量.
上海曼戈斐光学技术有限公司主营产品：粗糙度测量仪,高速摄像机,三维形貌轮廓仪,共聚焦显微镜,全自动影像仪,全自动晶元检测系统,太阳能表面检测系统,自动影像仪,共聚焦显微镜,光学测量仪,便携式共聚焦显微镜，白光共聚焦显微镜，激光共聚焦显微镜，3D共聚焦显微镜。
上海曼戈斐光学： http://www.megphy.com  
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