
非接触法测量厚度专家----------超过500家客户
一.应用领域:
1.光电子行业:
- 透镜ZX厚及胶合间隙测量
- 单件元件厚度控制(特别适用于红外材料,测量厚度控制平行度)
- 平板玻璃厚度测试:浮法玻璃、液晶平板
2.薄膜行业:测量塑料薄膜的厚
3.YL行业:测量滴液管、塑料管壁厚、直径等
 
 
二.测量原理:
图(1)

图(2)

Lumetrics厚度测量系统的测量原理是采用了短相干光源的迈克尔逊干涉仪。如图(1)、(2)Light Source(短相干光源)发出短相干光束,经Beamsplitter分束成两束光,这两束光通过准直仪聚焦到Measurement arm(测量臂) 和Reference arm(参考臂)上,在测量臂段,光束经待测物前后两表面反射产生两束反射光;在参考臂段,光束被delay line(延迟线路)中的扫描参考镜反射。各反射光束经光纤返回到Beamsplitter中,此时扫描反射镜反射的光束分别与R1和R2两束光发生干涉产生两干涉信号经探测器(光电二级管)转换为电信号再由显示仪显示。参考镜位置可以精确移动,当干涉仪的测量臂与参考臂光程相等时,才能够发生干涉。这样通过监控参考镜的移动,就可以测量被测镜的位置。
三.性能参数:
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OptiGauge SLS™
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OptiGauge MLS™
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OptiGauge EMS™
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测量范围
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12μm to 5mm
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12µm to 12mm
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12µm to 50mm
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Z多可测量层数
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1
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20
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20
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精度
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±0.1μm
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±0.1µm
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±0.1µm
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重复精度
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0.1μm 1σ
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0.1µm 1σ
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0.1µm 1σ
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测量时间
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50Hz
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50Hz Standard, 100Hz and 200Hz optional
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20Hz
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光源
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1310nm SLED – 45 nm wide
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1310nm SLED – 45 nm wide
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1310nm SLED – 45 nm wide
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测量头工作距离
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25mm and 50m
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25mm and 50mm
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50mm & 15
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光纤长度
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3M standard, up to 1000M Maximum
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3M standard, up to 1000M Maximum
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3M standard, up to 1000M Maximum
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Lumetrics产品被广泛应用于各行各业,Lumetrics既可以提供独立的测量头,也可以组合成各类测量设备,下面是一些实例:

此外,Lumetrics产品还被集成在各种设备中,广泛应用在各工业领域,下图是一些实例:

用于检查硅片键合质量

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